ASTM STP1340-1998 RECOMBINATION LIFETIME MEASUREMEENT IN SILICON

Документ «ASTM STP1340-1998 RECOMBINATION LIFETIME MEASUREMENT IN SILICON» представляет собой стандарт, посвящённый методам измерения времени рекомбинации в кремнии, что является ключевым параметром для оценки эффективности полупроводниковых материалов. Данный стандарт применяется в области материаловедения, электроники и фотоники, где важно определение свойств полупроводников для разработки новых технологий и устройств.

Основное внимание в документе уделяется методам, используемым для измерения времени рекомбинации, включая такие техники, как фотолюминеция и временная резонансная спектроскопия. Также регламентируются параметры испытаний, такие как температура, условия освещения и качество образцов, что позволяет обеспечить воспроизводимость результатов. Важным аспектом является определение предельных значений для различных типов кремниевых образцов, что способствует стандартизации процессов тестирования.

Технические детали, описанные в стандарте, включают условия испытаний, такие как использование контролируемой атмосферы и специфических источников света. Классификация измеряемых величин позволяет исследовать влияние различных факторов на время рекомбинации, что является критически важным для оптимизации полупроводниковых устройств. Стандарт также описывает процедуры калибровки и валидации используемого оборудования, что обеспечивает высокую точность измерений.

Целевая аудитория данного документа включает производителей полупроводниковых материалов, научные лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и стандартизацией продукции. Стандарт служит важным инструментом для специалистов, стремящихся обеспечить высокое качество и безопасность конечных продуктов, основанных на кремнии, а также для исследователей, работающих в данной области.

Практическое значение данного стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств. Соблюдение рекомендаций ASTM STP1340-1998 способствует повышению надёжности и эффективности электроники, а также улучшению условий труда в производственных процессах, связанных с обработкой кремниевых материалов. Изменения и дополнения, если таковые имеются, в основном касаются уточнения методов измерений и параметров, что отражает развитие технологий и новые достижения в области материаловедения.