ISO 14237-2010 Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

Документ «ISO 14237-2010» устанавливает методологию для вторичной ионной масс-спектрометрии (SIMS), специально направленную на определение концентрации атомов бора в кремнии, используя материалы с однородным легированием. Он применяется в различных областях, включая полупроводниковую промышленность и материалы для электроники, где контроль содержания бора является критически важным для качества и производительности конечного продукта.

Стандарт охватывает ключевые аспекты, такие как выбор методов анализа, параметры, которые должны быть соблюдены во время испытаний, и требования к оборудованию. Он детализирует процедуры, необходимые для получения точных и воспроизводимых результатов, а также обозначает условия испытаний, такие как давление и температура, что позволяет снизить потенциальные источники ошибок.

К важным техническим деталям относится классификация методов и качество реактивов, а также описание измеряемых величин, таких как концентрация бора и степень однородности легирования. Документ также предлагает рекомендации по калибровке оборудования и интерпретации полученных данных, что способствует повышению надежности анализов.

Основной целевой аудиторией стандарта являются производители полупроводниковых компонентов, лаборатории, занимающиеся испытаниями, и органы контроля качества. Эти группы нуждаются в четких методологиях для обеспечения соответствия продукции установленным стандартам, что в свою очередь влияет на безопасность и качество конечной продукции.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и согласованность при производстве полупроводниковых изделий. Он обеспечивает унифицированный подход к анализу, который помогает предотвратить потенциальные дефекты в продуктах и способствует соблюдению нормативных требований. Изменения в документе, если они будут внесены, должны касаться лишь уточнения методов и технологий, не затрагивая принципиальные аспекты применяемых процедур.