Картотека документов
Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ISO 16413-2020 Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
Название документа
ISO 16413-2020 Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
ISO 16412-2005 Air cargo equipment Air cargo pallets Utilization guidelines
ISO 16410-2-2018 Electronic fee collection - Evaluation of equipment for conformity to ISO 17575-3 - Part 2: Abstract test suite
ISO 16410-1-2017 Electronic fee collection - Evaluation of equipment for conformity to ISO 17575-3 - Part 1: Test suite structure and test purposes
ISO 16415-2012 Non-structural timber grading requirements
ISO 16417-2020 Earth-moving machinery — Hydraulic breakers — Terminology and commercial specifications
ISO 16419-2013 Cork - Visual anomalies of cork stoppers for still wines