ISO 18118-2015 Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

Документ ISO 18118-2015 представляет собой руководство по использованию экспериментально определённых относительных коэффициентов чувствительности для количественного анализа однородных материалов с применением методов Auger-электронной спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Основное назначение данного стандарта заключается в обеспечении единообразия и точности при количественном анализе химического состава поверхностей материалов, что особенно важно в научных и промышленных приложениях.

Стандарт регламентирует методы, параметры и требования, необходимые для проведения анализа с использованием указанных спектроскопических методов. В частности, он описывает условия испытаний, такие как выбор энергии облучения и давление в вакууме, а также классификацию материалов, которые могут быть проанализированы с использованием данных методов. Также в документе указаны измеряемые величины, включая относительную чувствительность различных элементов и соединений.

Целевая аудитория стандарта включает производителей, научные лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются оценкой качества и безопасности материалов. Стандарт предоставляет необходимые рекомендации для специалистов, работающих в области материаловедения, аналитической химии и смежных дисциплин, что способствует повышению качества проводимых исследований и испытаний.

Практическое значение ISO 18118-2015 заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда. Применение данного стандарта позволяет улучшить точность и воспроизводимость результатов анализа, что, в свою очередь, способствует повышению доверия к получаемым данным и улучшению совместимости различных материалов. Это особенно важно в таких областях, как электроника, медицина и автомобильная промышленность, где точность анализа критична.

Документ не содержит значительных изменений по сравнению с предыдущими версиями, однако акцентирует внимание на важности использования экспериментально определённых коэффициентов чувствительности для повышения точности количественного анализа. Это позволяет специалистам лучше понимать и интерпретировать результаты спектроскопических исследований, что является ключевым аспектом для дальнейшего развития технологий анализа поверхности.