ISO 22415-2019 SURFACE CHEMICAL ANALYSIS - SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY - METHOD FOR DETERMINING YIELD VOLUME IN ARGON CLUSTER SPUTTER DEPTH PROFILING OF ORGANIC MATERIALS

Название документа

Вид документа

Принявший орган

Статус

Скрыто

Дата принятия

Скрыто

Дата начала действия

Скрыто

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.

Возможно вас заинтересуют

ISO 22414-2004 Paper Cut-size office paper Measurement of edge quality

ISO 22413-2021 Transfer sets for pharmaceutical preparations — Requirements and test methods

ISO 22412-2017 Particle size analysis - Dynamic light scattering (DLS)

ISO 22418-2020 Intelligent transport systems — Fast service announcement protocol (FSAP) for general purposes in ITS

ISO 22419-2019 Ships and marine technology — Testing specification for handrails using electrical resistance trace heating

ISO 22423-2019 Foil bearings - Performance testing of foil thrust bearings - Testing of static load capacity, bearing torque, friction coefficient and lifetime