ГОСТ 4.64-80 Система показателей качества продукции (СПКП). Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей (с Изменением N 1)

ГОСТ 4.64-80

Группа Т51

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

Система показателей качества продукции

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ

Номенклатура показателей

Product-quality index system. Semiconductor materials.
Nomenclature of indices

Дата введения 1981-07-01

ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 12 мая 1980 г. N 2059

ПЕРЕИЗДАНИЕ (февраль 1985 г.) с Изменением N 1, утвержденным в марте 1985 г. Пост. N 545 от 13.03.85 (ИУС 6-85).

Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции.

Коды ОКП приведены в справочном приложении 1.

1. НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ОБЪЕМНЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ

Номенклатура показателей качества, единицы измерения, условные обозначения, а также характеризуемые свойства, приведены в табл.1.

Алфавитный перечень показателей качества полупроводниковых материалов приведен в справочном приложении 2.

Таблица 1


Показатель качества и единица измерения	Условное обозначение показателя качества	Характеризуемое свойство
1. Удельное электрическое сопротивление, Ом·см		Электрофизическое свойство
1.1. Номинальное значение удельного электрического сопротивления, Ом·см
1.2. Интервал номинальных значений удельного электрического сопротивления, Ом·см
1.3. Интервал значений удельного электрического сопротивления, Ом·см
2. Относительное отклонение удельного электрического сопротивления от среднего значения по длине монокристаллического слитка, %		Электрофизическое свойство
3. Радиальное относительное отклонение удельного электрического сопротивления от среднего значения по торцу монокристаллического слитка, %		Электрофизическое свойство
4. Относительное отклонение средних значений удельного электрического сопротивления торцов от номинального значения удельного электрического сопротивления, %		Электрофизическое свойство
5. Ориентация продольной оси монокристаллического слитка		Кристаллографическое свойство
6. Отклонение плоскости торцового среза от плоскости ориентации, °		Кристаллографическое свойство

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа

Номер документа

4.64-80

Вид документа

Нормативно-технический документ

Классификация ОКС

03 Социология. Услуги. Организация фирм и управление ими. Администрация. Транспорт 03.120 Качество

29 Электротехника 29.045 Полупроводниковые материалы

Статус

Скрыто

Дата принятия

Скрыто

Дата начала действия

Скрыто

Документ «ГОСТ 4 64 80 Система показателей качества продукции СПКП Полупроводниковые материалы Номенклатура показателей с Изменением N 1» предназначен для установления единой системы показателей качества полупроводниковых материалов. Он охватывает основные аспекты, связанные с оценкой и контролем качества продукции в данной области, а также определяет номенклатуру показателей, которые должны применяться в процессе производства и тестирования полупроводниковых материалов.

Основные регламентируемые аспекты стандарта включают методы испытаний, параметры, которые необходимо учитывать, и требования к процессам контроля качества. В документе предусмотрены четкие процедуры, которые должны соблюдаться для обеспечения соответствия продукции установленным нормам. Это позволяет производителям и лабораториям осуществлять качественную оценку полупроводниковых материалов на всех этапах их жизненного цикла.

Ключевыми техническими деталями, описанными в стандарте, являются условия испытаний, классификация материалов, а также измеряемые величины, такие как электрические и физические характеристики. Эти параметры имеют важное значение для обеспечения надежности и эффективности полупроводниковых компонентов, используемых в различных отраслях, включая электронику и энергетические системы.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, научно-исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за мониторинг и сертификацию продукции. Стандарт служит основой для разработки и внедрения систем управления качеством, что способствует повышению уровня доверия к продукции на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых материалов, что, в свою очередь, отражается на надежности конечной продукции. Соблюдение требований ГОСТ позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией полупроводниковых устройств, а также способствует улучшению условий труда на производственных предприятиях. Изменение N 1, внесенное в стандарт, уточняет некоторые параметры и процедуры, что позволяет адаптировать его к современным требованиям и технологиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.