ГОСТ 8.557-91 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Государственная поверочная схема для средств измерений спектральных, интегральных редуцированных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,2-50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений

ГОСТ 8.557-91

Группа Т84

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

Государственная система обеспечения единства измерений

ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ
СПЕКТРАЛЬНЫХ, ИНТЕГРАЛЬНЫХ И РЕДУЦИРОВАННЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ
НАПРАВЛЕННОГО ПРОПУСКАНИЯ В ДИАПАЗОНЕ ДЛИН ВОЛН 0,250,0 мкм,
ДИФФУЗНОГО И ЗЕРКАЛЬНОГО ОТРАЖЕНИЙ В ДИАПАЗОНЕ
ДЛИН ВОЛН 0,220,0 мкм

State system for ensuring the uniformity of measurements.
State verification schedule for measuring means of spectral, integral and reduced
regular transmissivities within the wavelength range of 0,250,0 m, diffused
and mirror reflections within the wavelength range of  0,220,0 m

ОКСТУ  0008

Дата введения 1992-01-01

     
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Комитетом по стандартизации и метрологии СССР

РАЗРАБОТЧИКИ

А.М.Ульянов, канд. физ.-мат. наук (руководитель темы); В.И.Саприцкий, д-р техн. наук; В.П.Кузнецов; Е.А.Домогатская, канд. физ.-мат. наук; А.В.Новицкий; С.Н.Горшков; Н.В.Петрова; И.В.Никитина

2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН  В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Комитета по стандартизации и метрологии СССР от 17.04.91 N 8

Настоящий стандарт распространяется на государственную поверочную схему для средств измерений спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм (см. вкладку) и устанавливает порядок передачи размера единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,22,5 мкм от государственного первичного эталона единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания () в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм в диапазоне значений 0,010,95, диффузного отражения () в диапазоне значений 0,021,00 и зеркального отражения () в диапазоне значений 0,010,95 в диапазоне длин волн 0,22,5 мкм - безразмерных величин при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки.

1. ЭТАЛОНЫ

1.1. Государственный первичный эталон применяют для передачи размера единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,22,5 мкм вторичным эталонам непосредственным сличением, методами прямых и косвенных измерений и рабочим средствам измерений методом прямых измерений.

1.2. В качестве эталона-копии единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют комплексы, состоящие из спектро-фотометрической установки, наборов мер из образцов нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений =0,0010,100 и 0,010,99; =0,021,00 и =0,010,05 и 0,050,95.

В качестве эталона сравнения единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов прозрачного нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений =0,0010,990; =0,021,00; =0,010,05 и 0,050,95.

В качестве рабочих эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов нейтрального оптического стекла и кварца, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений =0,0010,990; =0,011,00 и =0,010,95.

В качестве рабочих эталонов единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют спектрофотометрические установки в диапазонах измерений =0,0010,100 и 0,010,99 и ==0,011,00.

В качестве рабочих эталонов единиц интегральных (для заданных источников излучения) и редуцированных (для заданных источников излучения и редуцирующих функций) коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм применяют наборы мер, каждый из которых состоит из образцов нейтрального оптического стекла, образцов с полупрозрачным металлическим покрытием на прозрачной подложке, набора секторных дисков, диффузно и зеркально отражающих поверхностей в диапазонах измерений =0,0010,990 и

==0,011,00.

1.3. Средние квадратические отклонения результатов измерений эталона-копии единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,220,0 мкм с государственным составляют:

для направленного пропускания:

в диапазоне измерений 0,010,100 в диапазоне длин волн 0,250,0 мкм - от 0,0005 до 0,0010;

в диапазоне измерений 0,0010,99 в диапазоне длин волн 0,20,4 мкм - 0,001; в диапазоне длин волн 0,40,9 мкм - 0,0005;

в диапазоне длин волн 0,950,0 мкм - 0,001;

для диффузного отражения:

в диапазоне измерений 0,021,00 - от 0,002 до 0,0015;

для зеркального отражения:

в диапазоне измерений 0,010,05 - от 0,0005 до 0,0010;

в диапазоне измерений 0,050,95 - от 0,001 до 0,010.