ГОСТ 18472-88 (СТ СЭВ 1818-86) Приборы полупроводниковые. Основные размеры (с Изменениями N 1, 2)

Документ «ГОСТ 18472-88 СТ СЭВ 1818-86» представляет собой стандарт, регулирующий основные размеры полупроводниковых приборов. Он предназначен для обеспечения единообразия в производстве и контроле качества полупроводниковых устройств, что особенно важно в условиях международной торговли и сотрудничества. Стандарт применяется в различных отраслях, включая электронику, радиотехнику и другие области, где используются полупроводниковые компоненты.

Ключевыми аспектами документа являются регламентирование размеров, форм и других параметров полупроводниковых приборов, что обеспечивает их совместимость и функциональность. В стандарте описаны методы измерений, требования к точности, а также процедуры контроля качества на всех этапах производства. Это позволяет производителям гарантировать, что их продукция соответствует установленным нормам и требованиям.

Технические детали стандарта включают условия испытаний полупроводниковых приборов, таких как температура, влажность и другие параметры окружающей среды, которые могут влиять на характеристики изделий. Также в документе указаны классификации полупроводниковых приборов в зависимости от их назначения и технических характеристик, что упрощает выбор и использование компонентов в различных приложениях.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых приборов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих процессов, что в свою очередь способствует повышению конкурентоспособности отечественных производителей на международном рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых приборов, а также на охрану труда. Соблюдение требований ГОСТ 18472-88 способствует снижению рисков, связанных с использованием некачественных компонентов, и повышает надежность конечной продукции. Изменения, внесенные в стандарт, касаются уточнения размеров и параметров, что позволяет более точно соответствовать современным требованиям технологий и улучшать характеристики полупроводниковых изделий.