ГОСТ 22372-77 (СТ СЭВ 3164-81 и СТ СЭВ 3166-81) Материалы диэлектрические. Метод определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5·10_(6) Гц (с Изменением N 1)

     ГОСТ 22372-77
(СТ СЭВ 3164-81 и СТ СЭВ 3166-81)**
_________________________
** Обозначение стандарта.
Измененная редакция, Изм. N 1.

Группа Э19

     
     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

МАТЕРИАЛЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ

Методы определения диэлектрической проницаемости
и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5·10 Гц

Dielectric materials. Methods of determination of permittivity and powerfactor with
 in a frequency range of 100 to 5·10 Hz

Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 18 февраля 1977 г. № 424 срок действия установлен с 01.01 1978 г. до 01.01.1983 г.*

_____________

* Ограничение срока действия снято по протоколу № б/н Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации. (ИУС № 2, 1993 год). - Примечание изготовителя базы данных.

ВЗАМЕН ГОСТ 9141-65, ГОСТ 13671-68

ПЕРЕИЗДАНИЕ. Ноябрь 1978 г.

ВНЕСЕНО Изменение № 1, введенное в действие Постановлениями Госстандарта СССР от 22.02.83 № 887, 904 с 01.07.83

    Изменение № 1 внесено изготовителем базы данных по тексту ИУС № 6, 1983 год

Настоящий стандарт распространяется на диэлектрические материалы и устанавливает методы определения относительной диэлектрической проницаемости (диэлектрической проницаемости) и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5·10 Гц (с 1985 г. от 15 до 300·10 Гц).

Методы испытаний, приведенные в настоящем стандарте, применимы в интервале температур от минус 60 до плюс 250°С.

Стандарт не распространяется на диэлектрические материалы в виде пленок толщиной менее 0,015 см.

Стандарт соответствует СТ СЭВ 3164-81 и СТ СЭВ 3166-81 (см. справочное приложение 2).

(Измененная редакция, Изм. № 1).

1. МЕТОДЫ ОТБОРА ОБРАЗЦОВ

1.1. Порядок отбора, способ обработки и число образцов для испытаний твердых диэлектрических материалов должны быть указаны в стандартах или другой нормативно-технической документации на испытуемый материал. При отсутствии таких указаний число образцов должно быть не менее трех.

1.2. Образцы для испытаний твердых диэлектрических материалов должны быть изготовлены в виде круглых, квадратных пластин или цилиндрических трубок.

1.3. Поверхность образца должна быть ровной, гладкой, без трещин, складок, вмятин, царапин, посторонних включений и других дефектов. При необходимости поверхность образца должна быть очищена растворителем, не влияющим на свойства материала.

1.4. Толщина и площадь испытуемых образцов должны быть такими, чтобы емкость конденсатора, полученная после нанесения электродов на испытуемый образец, была достаточной для определения диэлектрической проницаемости с погрешностью не более ±4%. При этом диаметр или ширина плоского образца должны быть от 2,5 до 15 см, а длина трубчатого образца - от 10 до 30 см. Во всех случаях отношение диаметра образца к его толщине должно быть не менее 10.

Для материалов с большой (30) диэлектрической проницаемостью допустимы образцы меньшего диаметра, но не менее 1 см.

1.5. Толщина образца должна определяться как среднеарифметическое результатов измерений его не менее чем в пяти точках, равномерно расположенных по поверхности образца. Погрешность измерения толщины в каждой точке должна быть не более ±(0,01+0,0002) см. Каждое из измеренных значений толщины не должно отличаться от среднеарифметического более чем на 5% при толщинах меньше 0,05 см и на 2% при толщине 0,05 см и более.

1.4, 1.5 (Измененная редакция, Изм. № 1).

1.6. Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь материала должно проводиться на одном и том же образце.

1.7. Число испытываемых проб, объем пробы, необходимый для проведения одного испытания для жидкого диэлектрического материала, должны выбираться в соответствии с ГОСТ 6581-75.

2. АППАРАТУРА

2.1. Измерение емкости и тангенса угла диэлектрических потерь конденсатора должно проводиться на установках и приборах, удовлетворяющих следующим требованиям:

а) измерительная установка, состоящая из источника напряжения, измерительного устройства и индикатора, должна обеспечивать проведение измерений в диапазоне частот от 100 до 5·10 Гц или на фиксированных частотах в этом диапазоне;

б) напряжение измерительной цепи должно иметь синусоидальную форму с постоянной амплитудой, а ее значение должно быть указано в стандартах или другой нормативно-технической документации на материал и в любом случае не должна превышать напряжение ионизации. Колебания напряжения не должны превышать ±3%, а стабильность частоты напряжения должна быть такой, чтобы ее уход за время измерения был не более 1% изменяемой частоты. Основная погрешность установки частоты не должна превышать ±1%;

в) индикатор, используемый в качестве указателя равновесия моста, должен быть достаточно селективным, чтобы исключить влияние искажения формы кривой питающего напряжения. Ослабление второй гармоники по отношению к основной должно быть не менее 35 дБ;

г) основная погрешность прибора (установки), применяемого для измерения емкости и тангенса угла диэлектрических потерь конденсатора в диапазоне емкостей от 20 до 1000 пФ, не должна превышать: ±(0,01+1) пФ при измерении ;