ГОСТ 17230-71 (СТ СЭВ 1624-79) Микросхемы интегральные. Ряд питающих напряжений (с Изменениями N 1, 2, 3, 4) - Информпроект Групп
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 17230-71 (СТ СЭВ 1624-79) Микросхемы интегральные. Ряд питающих напряжений (с Изменениями N 1, 2, 3, 4)

ГОСТ 17230-71 (СТ СЭВ 1624-79) Микросхемы интегральные. Ряд питающих напряжений (с Изменениями N 1, 2, 3, 4)

     
     ГОСТ 17230-71*
(СТ СЭВ 1624-79)

Группа Э23

     
     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР


МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

Ряд питающих напряжений

Integrated microcircuits.
Supply voltage range

     
     
Дата введения 1972-07-01


Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 25 октября 1971 г. N 1753 срок введения установлен с 01.07.72

ПРОВЕРЕН в 1986 г.

* ПЕРЕИЗДАНИЕ (март 1987 г.) с Изменениями N 1, 2, 3, 4, утвержденными в сентябре 1973 г., ноябре 1975 г., августе 1980 г., июне 1986 г. (ИУС 9-73, 12-75, 10-80, 10-86)



1. Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы, работающие при номинальных значениях питающих напряжений до 200 В, и устанавливает номинальные значения питающих напряжений, а также допускаемые отклонения питающих напряжений от номинальных значений.

Стандарт не распространяется на интегральные микросхемы, работающие в широком диапазоне питающих напряжений (охватывающих 2 или более номинальных напряжений).

Стандарт полностью соответствует СТ СЭВ 1624-79 и Публикациям МЭК 147-OD и 147-ОЕ.

(Измененная редакция, Изм. N 2, 4).

2. Номинальные значения напряжений должны соответствовать следующему ряду: 1,2; 1,3*; 1,5*; 2,4; 3,0; 4,0; 4,5*; 5,0; 5,2**; 6,0; (6,3); 9,0; 12,0; (12,6); 15,0; 18,0; 24,0; 27,0; 30,0; 36,0; 48,0; 60,0; 100; 150; 200 В.

________________

* Значения напряжений, предназначенные для интегральных микросхем, работающих с химическими источниками питания. Значение напряжения 4,5 В в технически обоснованных случаях предназначено также для сверхскоростных и матричных интегральных микросхем.

** Номинальные значения напряжения применять в технически обоснованных случаях для микросхем типа ЭСЛ.

Примечание. Значения, приведенные в скобках, в новых разработках микросхем не применять.



(Измененная редакция, Изм. N 1, 2, 4).

3. Допускаемые отклонения питающих напряжений от номинальных значений должны выбираться из ряда: ±5, ±10, ±20%.

Для отдельных прецизионных интегральных микросхем в технически обоснованных случаях допускается отклонение питающего напряжения от номинального значения в пределах ±5%.

(Измененная редакция, Изм. N 2).




Текст документа сверен по:
официальное издание
М.: Издательство стандартов, 1988

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ГОСТ 17230-71 (СТ СЭВ 1624-79) Микросхемы интегральные. Ряд питающих напряжений (с Изменениями N 1, 2, 3, 4)
Номер документа
17230-71
Вид документа
Нормативно-технический документ
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ 17230-71 СТ СЭВ 1624-79 Микросхемы интегральные Ряд питающих напряжений с Изменениями N 1 2 3 4» является национальным стандартом, устанавливающим требования к микросхемам интегральным, используемым в различных электронных устройствах. Основное назначение стандарта заключается в регламентации параметров питающих напряжений, обеспечивающих надёжную работу интегральных схем в условиях, соответствующих современным требованиям промышленности. Стандарт применяется в области разработки, производства и испытаний интегральных микросхем, а также в научных и образовательных учреждениях, занимающихся электроникой.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы испытаний, параметры питающих напряжений, а также требования к их стабильности и допустимым отклонениям. Стандарт описывает процедуры, необходимые для оценки характеристик микросхем, включая условия их функционирования при различных температурных режимах и уровнях нагрузки. Важным аспектом является также определение допустимых значений шумов и пульсаций напряжения, которые могут влиять на работу интегральных схем.

Технические детали, указанные в стандарте, охватывают условия испытаний, такие как температура, влажность и продолжительность тестирования, а также классификацию микросхем по их функциональным и электрическим характеристикам. Измеряемыми величинами являются параметры, такие как входное и выходное напряжение, токи, а также уровни помех. Эти данные необходимы для оценки надёжности и долговечности интегральных схем в различных условиях эксплуатации.

Целевая аудитория стандарта включает производителей интегральных схем, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за сертификацию и контроль качества электроники. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и продуктов, а также для обеспечения совместимости различных электронных компонентов, что особенно важно в условиях глобализации и интеграции рынков.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда. Соблюдение требований ГОСТ 17230-71 способствует снижению рисков, связанных с эксплуатацией электронных устройств, и повышает уровень доверия потребителей к продукции. Изменения, внесённые в стандарт, касаются уточнения методов испытаний и расширения диапазона регламентируемых параметров, что позволяет более точно оценивать характеристики современных интегральных схем и соответствовать актуальным требованиям отрасли.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»