Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 18604.1-80 (СТ СЭВ 3993-83) Транзисторы биполярные. Метод измерения постоянной времени цепи обратной связи на высокой частоте (с Изменением N 1)
ГОСТ 18604.1-80*
(CT СЭВ 3993-83)
Группа Э29
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ТРАНЗИСТОРЫ БИПОЛЯРНЫЕ
Метод измерения постоянной времени цепи
обратной связи на высокой частоте
Transistors bipolar. Method for measuring
collector-tobase time constant at high frequencies
ОКП 63 2312
Дата введения 1982-01-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 4 июля 1980 г. N 3392 срок действия установлен с 01.01.82 до 01.01.87**
________________
** Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 17.09.91 N 1454 (ИУС N 12, 1991 год). - Примечание изготовителя базы данных.
ВЗАМЕН ГОСТ 18604.1-73
* ПЕРЕИЗДАНИЕ (декабрь 1985 г.) с Изменением N 1, утвержденным в апреле 1984 г. (ИУС 8-84).
Настоящий стандарт распространяется на биполярные транзисторы и устанавливает метод измерения постоянной времени цепи обратной связи на высокой частоте (далее - постоянной времени).
Общие требования при измерении должны соответствовать ГОСТ 18604.0-83 и требованиям, изложенным в соответствующих разделах настоящего стандарта.
Стандарт полностью соответствует СТ СЭВ 3993-83.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1. ПРИНЦИП И УСЛОВИЯ ИЗМЕРЕНИЯ
1.1. Постоянную времени определяют измерением модуля коэффициента обратной связи по напряжению
в режиме малого сигнала на высокой частоте исходя из соотношения
,
где - частота, на которой измеряют
.
1.2. Частоту измерений выбирают из ряда: 5, 10, 30, 100, 300 МГц; она должна удовлетворять соотношению
,
где - значение параметра
, измеряемое на низкой частоте;
- конструктивная паразитная индуктивность базового вывода контактодержателя, значение которой обеспечивается конструкцией узла;
- индуктивность базового вывода транзистора;
- емкость коллекторного перехода транзистора.
Значения и
указывают в стандартах или технических условиях на транзисторы конкретных типов (далее - стандартах).
1.3. Измерения производят на малом переменном сигнале при температуре окружающей среды в пределах (25±10) °С. Амплитуду сигнала считают достаточно малой, если при уменьшении амплитуды сигнала генератора в два раза значение измеряемого параметра изменяется менее чем на значение погрешности измерительной установки.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.4. На транзистор в схеме с общей базой задают режим от источника постоянного тока эмиттера и от источника постоянного напряжения коллектор-база, который должен соответствовать указанному в стандартах.
2. АППАРАТУРА
2.1. Постоянную времени следует измерять на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.1.
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 18604 1 80 СТ СЭВ 3993 83» регламентирует метод измерения постоянной времени цепи обратной связи на высокой частоте для биполярных транзисторов. Он предназначен для применения в области электроники, в частности, для оценки параметров транзисторов, используемых в различных электронных устройствах. Стандарт обеспечивает единообразие в методах испытаний и предоставляет необходимую информацию для корректного измерения, что особенно важно для производителей и исследовательских лабораторий.
Ключевыми аспектами документа являются методы измерения, параметры, а также требования к оборудованию и условиям испытаний. В частности, стандарт описывает процедуры, которые должны быть выполнены для получения точных и воспроизводимых результатов. Регламентируются такие параметры, как частота измерений, температура, а также условия подключения измерительных приборов, что позволяет избежать погрешностей в получаемых данных.
Важные технические детали включают описание условий испытаний, таких как необходимость использования определенного оборудования и соблюдение стандартных температурных режимов. Также документ уточняет классификацию измеряемых величин и их взаимосвязь с характеристиками транзисторов. Это позволяет специалистам правильно интерпретировать результаты и использовать их для дальнейшего анализа и разработки новых устройств.
Целевая аудитория стандарта включает производителей биполярных транзисторов, лаборатории, занимающиеся их тестированием, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение норм и стандартов в области электроники. Данный документ является важным инструментом для обеспечения качества и надежности продукции, а также для повышения уровня доверия к результатам испытаний.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость электроники. Соблюдение регламентируемых процедур позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией электронных устройств, и гарантирует их надёжную работу в различных условиях. Стандарт также способствует улучшению охраны труда, поскольку правильное тестирование компонентов помогает избежать аварийных ситуаций.
Изменения и дополнения к документу касаются уточнения методов измерения и расширения диапазона применяемых частот, что делает его более актуальным для современных технологий. Эти изменения направлены на улучшение точности и воспроизводимости результатов, что является важным для развития отрасли и повышения конкурентоспособности продукции на рынке.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»