ГОСТ 19656.1-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению (с Изменением N 1) - Информпроект Групп
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 19656.1-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению (с Изменением N 1)

ГОСТ 19656.1-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению (с Изменением N 1)


     ГОСТ 19656.1-74*
(СТ СЭВ 3408-81)

Группа Э29

     
     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ СМЕСИТЕЛЬНЫЕ И ДЕТЕКТОРНЫЕ

Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению

Semiconductor microwave mixer and detector diodes.
Method of measuring voltage standing-wave ratio

     
Дата введения 1975-07-01


Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 29 марта 1974 г. N 753 срок введения установлен с 01.07.75

Проверен в 1987 г. Постановлением Госстандарта СССР от 20.04.87 N 1330 срок действия продлен до 07.07.92**

________________

** Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 02.09.91 N 1413 (ИУС N 12, 1991 год). - Примечание изготовителя базы данных.

* ПЕРЕИЗДАНИЕ (апрель 1988 г.) с Изменением N 1, утвержденным в январе 1983 г.; Пост. N 387 от 25.01.83 (ИУС N 5-1983 г.)



Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц.

Стандарт соответствует СТ СЭВ 3408-81 (см. справочное приложение) и Публикации МЭК 147-2К в части принципа измерения.

Общие условия при измерении должны соответствовать требованиям ГОСТ 19656.0-74 и настоящего стандарта.

(Измененная редакция, Изм. N 1).



1. УСЛОВИЯ И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЯ

1.1. Условия и режим измерения - по ГОСТ 19656.0-74.

(Измененная редакция, Изм. N 1).



2. АППАРАТУРА

2.1. Коэффициент стоячей волны по напряжению измеряют на установке, структурная схема которой приведена на чертеже.




- генератор СВЧ мощности; - частотомер; - ферритовый вентиль; - переменный аттенюатор;
- измеритель мощности; - индикаторный прибор; - измерительная линия или рефлектометр;
- измерительная диодная камера; - резистор нагрузки по постоянному току



2.2. Значение нагрузки диода по постоянному току должно быть установлено с относительной погрешностью, не выходящей за пределы ±1%.

2.1, 2.2. (Измененная редакция, Изм. N 1).

2.3. (Исключен, Изм. N 1).



3. ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЯ И ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

3.1. Устанавливают заданный режим измерения, настраивают измерительную линию и в измерительную диодную камеру вставляют измеряемый диод.

3.2. Передвигая зонд, отмечают максимальное и минимальное показания индикатора измерительной линии.

3.3. Определяют и по формуле (при квадратичном детекторе)

.

3.4. При использовании рефлектометра определяют по формуле (при квадратичном детекторе).

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ГОСТ 19656.1-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению (с Изменением N 1)
Номер документа
19656.1-74
Вид документа
Нормативно-технический документ
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ 19656 1 74 СТ СЭВ 3408 81» устанавливает метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению для полупроводниковых СВЧ смесительных и детекторных диодов. Основное назначение стандарта заключается в обеспечении единообразия и точности измерений в области высокочастотной электроники. Сфера его применения охватывает как научные исследования, так и производственные процессы, где используются указанные компоненты.

В документе регламентируются методы испытаний, параметры измерений и требования к оборудованию, необходимому для выполнения измерений. Основное внимание уделяется условиям, при которых проводятся испытания, включая рабочие частоты, температурные диапазоны и напряжения. Также описываются процедуры калибровки и проверки измерительных систем, что обеспечивает достоверность результатов.

Ключевыми измеряемыми величинами являются коэффициенты отражения и передачи, а также параметры, характеризующие работу смесительных и детекторных диодов в заданных условиях. Стандарт также определяет классификацию диодов в зависимости от их характеристик и области применения, что позволяет производителям и исследователям более точно подбирать компоненты для своих задач.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, научные и испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и обеспечением качества продукции. Стандарт служит важным инструментом для обеспечения совместимости и надежности изделий, что особенно актуально в условиях растущих требований к качеству и безопасности в электронике.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество работы высокочастотных устройств, а также на охрану труда при проведении испытаний. Соблюдение регламентируемых требований позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией полупроводниковых диодов, и способствует улучшению их характеристик. Изменения и дополнения, внесенные в стандарт, касаются уточнения методов измерений и расширения диапазона применяемых частот, что делает его более актуальным для современных технологий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»