ГОСТ 19656.2-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения среднего выпрямленного тока (с Изменением N 1) - Информпроект Групп
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 19656.2-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения среднего выпрямленного тока (с Изменением N 1)

ГОСТ 19656.2-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения среднего выпрямленного тока (с Изменением N 1)


     ГОСТ 19656.2-74*
(СТ СЭВ 3408-81)

Группа Э29



ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ СМЕСИТЕЛЬНЫЕ

Метод измерения выпрямленного тока

Semiconductor microwave mixer diodes. Method of measuring rectified current

     
     
Дата введения 1975-07-01


Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 29 марта 1974 г. N 753 срок введения установлен с 01.07.75

Проверен в 1987 г. Постановлением Госстандарта СССР от 20.04.87 N 1330 срок действия продлен до 01.07.92**

________________

** Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 02.09.91 N 1413 (ИУС N 12, 1991 год). - Примечание изготовителя базы данных.

* ПЕРЕИЗДАНИЕ (апрель 1988 г.) с Изменением N 1, утвержденным в январе 1983 г.; Пост. N 387 от 25.01.83 (ИУС N 5-1983 г.)



Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает метод измерения выпрямленного тока в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц.

Стандарт соответствует СТ СЭВ 3408-81 (см. справочное приложение 1) и Публикации МЭК 147-2К в части принципа измерения.

Общие условия при измерении должны соответствовать требованиям ГОСТ 19656.0-74 и настоящего стандарта.

(Измененная редакция, Изм. N 1).



1. УСЛОВИЯ И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЯ

1.1. Условия и режим измерения - по ГОСТ 19656.0-74.

(Измененная редакция, Изм. N 1).



2. АППАРАТУРА

2.1. Измерение выпрямленного тока проводят на установке, структурная схема которой приведена на чертеже.




- генератор СВЧ мощности; - частотомер; - ферритовый вентиль; - переменный аттенюатор;
- измеритель мощности; - измерительная диодная камера; - добавочный резистор;
- миллиамперметр.

2.2. Основные элементы, входящие в структурную схему, должны соответствовать требованиям, указанным ниже:

миллиамперметр постоянного тока должен иметь класс точности не хуже 1;

сопротивление резистора выбирают из условия

,



где - внутреннее сопротивление миллиамперметра;

- сопротивление нагрузки по постоянному току.

Относительная погрешность выполнения равенства не должна выходить за пределы ±1%.

2.1, 2.2. (Измененная редакция, Изм. N 1).

2.3. (Исключен, Изм. N 1).

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ГОСТ 19656.2-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения среднего выпрямленного тока (с Изменением N 1)
Номер документа
19656.2-74
Вид документа
Нормативно-технический документ
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ 19656 2 74 СТ СЭВ 3408 81 Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные Метод измерения среднего выпрямленного тока с Изменением N 1» устанавливает требования и методы измерения среднего выпрямленного тока для полупроводниковых диодов, используемых в сверхвысокочастотных (СВЧ) приложениях. Он предназначен для применения в области разработки, производства и контроля качества полупроводниковых приборов, а также в научных исследованиях, связанных с их эксплуатацией.

Основное внимание в документе уделяется методам измерения, параметрам и требованиям, необходимым для обеспечения точности и воспроизводимости результатов. Стандарт описывает процедуры испытаний, включая условия, при которых должны проводиться измерения, а также характеристики измеряемых величин, таких как температура и напряжение, которые могут влиять на результаты тестирования.

Ключевыми аспектами являются требования к оборудованию и методам, которые должны использоваться для достижения надежных результатов. В документе также указаны допустимые отклонения и критерии оценки, что позволяет обеспечить высокое качество и совместимость измерений в различных лабораториях и производственных условиях.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых диодов, лаборатории, занимающиеся испытаниями и контролем качества, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение нормативных требований. Данный стандарт служит основой для обеспечения единого подхода к измерениям и способствует улучшению качества продукции на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых изделий, что, в свою очередь, обеспечивает надежность их работы в различных электронных устройствах. Стандарт помогает минимизировать риски, связанные с эксплуатацией диодов, и способствует улучшению охраны труда, так как правильное измерение параметров диодов позволяет избежать аварийных ситуаций и снизить уровень брака в производстве.

Изменения, внесенные в документ, касаются уточнения методов измерения и требований к испытательному оборудованию, что позволяет улучшить точность и достоверность получаемых данных. Эти дополнения направлены на соответствие современным требованиям и достижениям в области полупроводниковой техники, что делает стандарт актуальным для текущих условий производства и испытаний.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»