Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 19656.9-79 Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной и предельной частоты
ГОСТ 19656.9-79
Группа Э29
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ ПАРАМЕТРИЧЕСКИЕ И УМНОЖИТЕЛЬНЫЕ
Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes.
Methods of measuring time constant and limiting frequency
Дата введения 1981-01-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11 сентября 1979 г. N 3457 срок введения установлен с 01.01.81
Проверен в 1985 г. Постановлением Госстандарта СССР от 20.12.85 N 4271 срок действия продлен до 01.01.91**
________________
** Ограничение срока действия снято по протоколу N 3-93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС N 5/6, 1993 год). - Примечание изготовителя базы данных.
ВЗАМЕН ГОСТ 19656.9-74
* ПЕРЕИЗДАНИЕ. Апрель 1988 г
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды (далее - диоды) и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты: ,
:
метод четырехполюсника;
метод последовательного резонанса диода;
резонаторный метод.
Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере.
Общие условия должны соответствовать ГОСТ 19656.0-74.
1. МЕТОД ЧЕТЫРЕХПОЛЮСНИКА
1.1. Принцип и условия измерений
1.1.1. Постоянная времени или предельная частота диода должна определяться из измерения входного комплексного сопротивления измерительной камеры с включенным диодом с учетом коэффициентов пассивного линейного четырехполюсника, которые находят с помощью эквивалентного холостого хода (XX) и короткого замыкания (КЗ).
1.1.2. СВЧ-мощность , частота измерений
, напряжение смещения
, при которых производят измерения, должны приводиться в стандартах и технических условиях на диоды конкретных типов.
1.2.1. Измерения следует производить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.1.
- генератор СВЧ мощности;
- ферритовый вентиль;
- переменный аттенюатор;
- измерительная линия;
- измерительный усилитель;
- измерительная камера;
- источник напряжения смещения (варианты I, II подачи напряжения смещения
определяются конструкцией измерительной камеры)
Черт.1
1.2.2. Эквивалентом XX является корпус диода, в котором полупроводниковая структура не подсоединена к выводу диода или отсутствует.
Эквивалентом КЗ является корпус диода, в котором осуществлено короткое замыкание в месте установки полупроводниковой структуры без изменения внутренней геометрии корпуса.
Эквиваленты XX и КЗ выполняются в соответствии со стандартами и техническими условиями на диоды конкретных типов.
1.2.3. Измерительная линия должна иметь абсолютную погрешность отсчета положения зонда не более 0,001, где
- длина волны в линии передачи, в мм, на которой производят измерение.
1.2.4. Источник напряжения смещения должен удовлетворять следующим требованиям:
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 19656 9 79» регламентирует методы измерения постоянной и предельной частоты для полупроводниковых диодов, используемых в СВЧ (сверхвысоких частотах) приложениях. Основное назначение стандарта заключается в установлении единых требований и методик, которые обеспечивают достоверность и сопоставимость результатов измерений. Данный стандарт находит применение в области разработки, производства и контроля качества полупроводниковых устройств, а также в научных исследованиях.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми стандартом, являются методы измерения частотных характеристик диодов, включая как постоянную, так и предельную частоту. В документе описаны необходимые условия испытаний, такие как температура, напряжение и частота сигнала, что позволяет обеспечить точность и воспроизводимость измерений. Также указаны параметры, которые должны быть учтены при проведении испытаний, включая допустимые отклонения и спецификации оборудования.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и обеспечением качества продукции. Стандарт обеспечивает единый подход к оценке характеристик диодов, что способствует улучшению взаимодействия между различными участниками рынка и повышению уровня доверия к результатам испытаний.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых изделий, а также на совместимость различных устройств. Соблюдение требований ГОСТ 19656 9 79 позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией диодов в СВЧ-приложениях, что в свою очередь повышает надежность и долговечность конечной продукции. Стандарт также способствует улучшению условий труда за счёт уменьшения вероятности возникновения неисправностей и аварийных ситуаций.
В последующих редакциях документа были внесены уточнения в методы измерений и расширены требования к испытательному оборудованию. Это позволило учесть новые технологии и материалы, используемые в производстве полупроводниковых диодов, а также повысить уровень точности и надежности результатов измерений. Таким образом, ГОСТ 19656 9 79 остается актуальным и востребованным инструментом для специалистов в области полупроводниковой техники.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»