ГОСТ 19656.14-79 Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты - Информпроект Групп
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 19656.14-79 Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты

ГОСТ 19656.14-79 Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты


ГОСТ 19656.14-79

Группа Э29

     
     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЬНЫЕ

Метод измерения критической частоты

Semiconductor microwave switching diodes. Measurement method of critical frequency


     Дата введения 1981-01-01


Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11 сентября 1979 г. N 3457 срок действия установлен с 01.01 1981 г. до 01.01 1986 г.*

_______________

* Ограничение срока действия снято по протоколу N 3-93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС N 5/6, 1993 год). - Примечание изготовителя базы данных.



Настоящий стандарт распространяется на переключательные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения критической частоты .

Общие условия должны соответствовать ГОСТ 19656.0-74 и ГОСТ 18986.0-74.



1. ПРИНЦИП И УСЛОВИЯ ИЗМЕРЕНИЙ

1.1. Метод основан на измерении полного входного сопротивления измерительной диодной камеры с включенным в нее измеряемым диодом.

1.2. Режим измерения (уровень СВЧ мощности, частота, напряжение и ток смещения) устанавливается в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.



2. АППАРАТУРА

2.1. Измерения следует производить на установке, структурная схема и требования к элементам которой должны соответствовать ГОСТ 19656.11-75.

2.2. Допускается применять эквиваленты диодов в режимах короткого замыкания и холостого хода, обеспечивающие те же фазы стоячей волны, что и измеряемые диоды в режимах прямого и обратного смещения с погрешностью, установленной в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.



3. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ

3.1. Подготовку и проведение измерений следует производить в соответствии с ГОСТ 19656.11-75.

3.2. Для диодов с общей емкостью более 1,0 пФ допускается плоскость отсчета определять при короткозамкнутом центральном проводнике измерительной диодной камеры.



4. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

4.1. Критическую частоту в ГГц следует определять по формуле

,             (1)

     
где ;

     
;

     
;

           

; ; ; ; ; ; ; - значения, определяемые по ГОСТ 19656.11-75, мм;

           

- длина волны в измерительной линии, мм;

          

- скорость света 3 -10

мм/с.

4.1.1. При выполнении условий:

;

    

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ГОСТ 19656.14-79 Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты
Номер документа
19656.14-79
Вид документа
Нормативно-технический документ
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ 19656 14 79 Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные Метод измерения критической частоты» предназначен для регламентации методов измерения критической частоты диодов, используемых в качестве переключателей в сверхвысокочастотных (СВЧ) устройствах. Он находит применение в области разработки и производства СВЧ компонентов, а также в научных исследованиях, связанных с полупроводниковыми технологиями.

Основные аспекты, регулируемые данным стандартом, включают методику измерения критической частоты, параметры, которые должны быть учтены при проведении испытаний, а также требования к оборудованию и условиям испытаний. Стандарт описывает последовательность действий, необходимых для получения точных и воспроизводимых результатов при измерении критической частоты, что является важным для оценки характеристик диодов.

Важные технические детали, указанные в документе, касаются условий испытаний, таких как температура, напряжение и частота, а также классификации диодов по критической частоте. Измеряемые величины, такие как реакция диодов на различные частоты, играют ключевую роль в оценке их эффективности и надежности в различных приложениях.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых компонентов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества СВЧ устройств. Стандарт служит основой для обеспечения единых требований к качеству и безопасности продукции, что способствует улучшению конкурентоспособности на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на совместимость различных компонентов в СВЧ системах. Соблюдение требований ГОСТа позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией диодов, что, в свою очередь, способствует повышению надежности и долговечности конечных изделий.

В документе могут быть указаны изменения или дополнения, касающиеся обновлений методов испытаний или уточнений требований к измерениям. Эти изменения направлены на улучшение точности и актуальности стандартов в условиях быстро развивающихся технологий и новых требований рынка.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»