Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 19656.14-79 Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты
ГОСТ 19656.14-79
Группа Э29
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЬНЫЕ
Метод измерения критической частоты
Semiconductor microwave switching diodes. Measurement method of critical frequency
Дата введения 1981-01-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11 сентября 1979 г. N 3457 срок действия установлен с 01.01 1981 г. до 01.01 1986 г.*
_______________
* Ограничение срока действия снято по протоколу N 3-93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС N 5/6, 1993 год). - Примечание изготовителя базы данных.
Настоящий стандарт распространяется на переключательные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения критической частоты .
Общие условия должны соответствовать ГОСТ 19656.0-74 и ГОСТ 18986.0-74.
1. ПРИНЦИП И УСЛОВИЯ ИЗМЕРЕНИЙ
1.1. Метод основан на измерении полного входного сопротивления измерительной диодной камеры с включенным в нее измеряемым диодом.
1.2. Режим измерения (уровень СВЧ мощности, частота, напряжение и ток смещения) устанавливается в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
2. АППАРАТУРА
2.1. Измерения следует производить на установке, структурная схема и требования к элементам которой должны соответствовать ГОСТ 19656.11-75.
2.2. Допускается применять эквиваленты диодов в режимах короткого замыкания и холостого хода, обеспечивающие те же фазы стоячей волны, что и измеряемые диоды в режимах прямого и обратного смещения с погрешностью, установленной в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
3. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ
3.1. Подготовку и проведение измерений следует производить в соответствии с ГОСТ 19656.11-75.
3.2. Для диодов с общей емкостью более 1,0 пФ допускается плоскость отсчета определять при короткозамкнутом центральном проводнике измерительной диодной камеры.
4. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
4.1. Критическую частоту в ГГц следует определять по формуле
, (1)
где ;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
- значения, определяемые по ГОСТ 19656.11-75, мм;
- длина волны в измерительной линии, мм;
- скорость света 3 -10
4.1.1. При выполнении условий:
;
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 19656 14 79 Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные Метод измерения критической частоты» предназначен для регламентации методов измерения критической частоты диодов, используемых в качестве переключателей в сверхвысокочастотных (СВЧ) устройствах. Он находит применение в области разработки и производства СВЧ компонентов, а также в научных исследованиях, связанных с полупроводниковыми технологиями.
Основные аспекты, регулируемые данным стандартом, включают методику измерения критической частоты, параметры, которые должны быть учтены при проведении испытаний, а также требования к оборудованию и условиям испытаний. Стандарт описывает последовательность действий, необходимых для получения точных и воспроизводимых результатов при измерении критической частоты, что является важным для оценки характеристик диодов.
Важные технические детали, указанные в документе, касаются условий испытаний, таких как температура, напряжение и частота, а также классификации диодов по критической частоте. Измеряемые величины, такие как реакция диодов на различные частоты, играют ключевую роль в оценке их эффективности и надежности в различных приложениях.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых компонентов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества СВЧ устройств. Стандарт служит основой для обеспечения единых требований к качеству и безопасности продукции, что способствует улучшению конкурентоспособности на рынке.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на совместимость различных компонентов в СВЧ системах. Соблюдение требований ГОСТа позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией диодов, что, в свою очередь, способствует повышению надежности и долговечности конечных изделий.
В документе могут быть указаны изменения или дополнения, касающиеся обновлений методов испытаний или уточнений требований к измерениям. Эти изменения направлены на улучшение точности и актуальности стандартов в условиях быстро развивающихся технологий и новых требований рынка.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»