1200017160 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 24613.1-81 (СТ СЭВ 3790-82) Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости (с Изменением N 1)

ГОСТ 24613.1-81 (СТ СЭВ 3790-82) Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости (с Изменением N 1)


ГОСТ 24613.1-81*
(CT СЭВ 3790-82)

Группа Э29

     
     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ И ОПТОПАРЫ

Метод измерения проходной емкости

Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring of input-to-output capacitance

     
     
ОКП 623 000

     Дата введения 1982-07-01


Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 23 февраля 1981 г. N 926 срок действия установлен с 01.07.82 до 01.07.87**

________________

** Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 30.08.1991 N 1409 (ИУС N 12, 1991 год). - Примечание изготовителя базы данных.

* ПЕРЕИЗДАНИЕ (май 1984 г.) с Изменением N 1, утвержденным в декабре 1983 г. (ИУС N 4-84).



Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары (далее - приборы) и устанавливает метод измерения проходной емкости.

Общие условия при измерении должны соответствовать ГОСТ 24613.0-81 и требованиям, изложенным в соответствующих разделах настоящего стандарта.

Стандарт соответствует СТ СЭВ 3790-82* в части измерения проходной емкости (см. справочное приложение).

_______________

* На территории Российской Федерации действуют ГОСТ 24613.0-81, ГОСТ 24613.1-81, ГОСТ 24613.6-81, ГОСТ 246134.18-77, ГОСТ 24613.19-77, здесь и далее по тексту. - Примечание изготовителя базы данных.

            

(Измененная редакция, Изм. N 1).



1. ПРИНЦИП И УСЛОВИЯ ИЗМЕРЕНИЯ

1.1. Проходную емкость измеряют измерителем емкости между объединенными входными и объединенными выходными контактами прибора.

1.2. Контакты, к которым подводится напряжение питания выходных цепей, должны быть объединены с выходными контактами прибора.

1.3. Измерение емкости производятся при подаче на прибор переменного напряжения с заданной частотой измерительного сигнала. Постоянное напряжение смещения на прибор не подается.

(Измененная редакция, Изм. N 1).



2. АППАРАТУРА

2.1. Измерения производят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на чертеже.




А - устройство подключения; D - измеряемый прибор; ХС1, ХС2 - разъемное соединение устройства подключения и измерителя емкости; РС - измеритель емкости



2.2. Измеритель емкости PC должен обеспечивать измерение емкости в диапазоне значений, указанных в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов.

2.3. Измерение емкости проводят методом моста, резонансным методом или методом резистивно-емкостного делителя по ГОСТ 18986.4-73.

2.4. Погрешность измерителя емкости PC должна быть в пределах ±( пФ), где - максимальное значение проходной емкости, указанное в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов, пФ.

2.3, 2.4. (Измененная редакция, Изм. N 1).

2.5. Значение частоты переменного напряжения, на которой производится измерение, следует выбирать из диапазона 0,5-10 кГц.

2.6. Амплитуда переменного напряжения на проверяемом приборе не должна превышать 15 В, а ток, протекающий через прибор, не должен превышать 0,1 мА.

2.7. Устройство подключения прибора А должно обеспечивать электрическое соединение входных контактов прибора между собой и выходных контактов с контактами прибора, к которым подводится напряжение питания.

Устройство подключения должно иметь металлический заземленный экран, разделяющий входные и выходные цепи измеряемого прибора.

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ГОСТ 24613.1-81 (СТ СЭВ 3790-82) Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости (с Изменением N 1)
Номер документа
24613.1-81
Вид документа
Нормативно-технический документ
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ 24613 1 81 СТ СЭВ 3790 82 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости с Изменением N 1» определяет методику измерения проходной емкости интегральных оптоэлектронных микросхем и оптопар. Основное назначение стандарта заключается в обеспечении единства методов измерений, что способствует повышению качества и надежности продукции в данной области. Данный стандарт применяется на предприятиях, занимающихся разработкой и производством оптоэлектронных компонентов, а также в научно-исследовательских лабораториях.

Ключевыми аспектами документа являются методы измерения, параметры и требования к испытаниям, а также процедуры, которые должны соблюдаться при проведении измерений. Стандарт регламентирует условия испытаний, включая температуру и влажность, а также описывает необходимые инструменты и оборудование для точного определения проходной емкости. Важным элементом является также описание классификаций и измеряемых величин, что позволяет обеспечить сопоставимость результатов между различными лабораториями и производителями.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей оптоэлектронных компонентов, лаборатории, занимающиеся испытаниями и контролем качества, а также контролирующие органы, осуществляющие надзор за соблюдением стандартов в данной сфере. Стандарт предоставляет четкие рекомендации и требования, что упрощает процесс сертификации продукции и повышает доверие со стороны потребителей. Это также способствует унификации процессов и снижению вероятности ошибок при проведении измерений.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество производимой продукции. Соблюдение данного стандарта позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией оптоэлектронных устройств, а также повышает их совместимость с другими компонентами. В дополнение, стандарт способствует улучшению условий труда на производстве, так как четкие методические указания уменьшают вероятность ошибок и повышают эффективность работы специалистов.

Изменение N 1, внесенное в документ, касается уточнения некоторых параметров испытаний и методов измерения, что позволяет улучшить точность и воспроизводимость результатов. Эти изменения направлены на адаптацию стандарта к современным требованиям и технологиям, используемым в области оптоэлектроники. Таким образом, стандарт остается актуальным и полезным инструментом для всех участников рынка.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют