ГОСТ 29232-91 (ИСО 4311-79) Анионные и неионногенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод определения поверхностного натяжения с помощью пластины, скобы или кольца

     
     ГОСТ 29232-91
(ИСО 4311-79)

Группа Л29

     
     
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

Анионные и неионногенные поверхностно-активные вещества

ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИТИЧЕСКОЙ КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ

Метод определения поверхностного натяжения
с помощью пластины, скобы или кольца

Anionic and non-ionic surface active agents.
Determination of the critical micellization concentration.
Method by measuring surface tension with a plate, sturrup or ring

     
     
МКС 71.100.40
ОКСТУ 2409

Дата введения 1993-01-01

     
     
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. ПОДГОТОВЛЕН И ВНЕСЕН ТК 193 "Кислоты жирные синтетические, высшие жирные спирты, поверхностно-активные вещества"

2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Комитета стандартизации и метрологии СССР от 28.12.91 N 2244

Настоящий стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта ИСО 4311-79 "Анионные и неионногенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод определения поверхностного натяжения с помощью пластинки, скобы или кольца" и полностью ему соответствует

3. ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

5. ПЕРЕИЗДАНИЕ. Август 2004 г.

0. ВВЕДЕНИЕ

Кривые концентрационных зависимостей изменения физико-химических свойств водных растворов поверхностно-активных веществ (ПАВ) являются специфическими. В определенной области концентраций, обычно очень узкой, эти кривые имеют экстремумы, которые можно объяснить образованием в объеме раствора агрегатов молекул. Концентрацию, при которой появляются эти экстремумы, называют "критической концентрацией мицеллообразования" (ККМ).

При равной длине гидрофобной части молекулы ПАВ критическая концентрация мицеллообразования обычно является выше для ионных поверхностно-активных веществ, чем для неионногенных. На критическую концентрацию мицеллообразования, независимо от структуры поверхностно-активного вещества, влияют температура, а также природа и количество примесей как неорганических, так и органических. Поэтому заранее должны быть оговорены условия, которые могут влиять на конечный результат, в том числе должна быть известна чистота продукта и, насколько это возможно, состав и количество примесей, наличие которых может значительно изменить поверхностное натяжение (полезно знать, являются ли примеси органической или неорганической природы, и, если возможно, их концентрации).

Точные значения критической концентрации мицеллообразования не могут быть получены из непосредственных измерений, но предельные границы ККМ могут быть определены из кривых концентрационной зависимости поверхностного натяжения растворов ПАВ. Полученные таким образом значения ККМ вполне удовлетворяют практиков.

1. НАЗНАЧЕНИЕ

Настоящий стандарт устанавливает метод определения критической концентрации мицеллообразования растворов анионных и неионногенных поверхностно-активных веществ в дистиллированной воде или других водных системах путем измерения поверхностного натяжения с использованием в качестве рабочего элемента пластины, скобы или кольца.

2. ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ

Этот метод определения ККМ можно использовать как для чистых, так и для технических ПАВ (ионногенных и неионногенных) при любых температурах, отличных не менее чем на 5 °С от критических, - температуры помутнения для неионногенных ПАВ и температуры Крафта для ионногенных ПАВ.

Следует иметь в виду, что для измерений при температуре выше, чем температура в лаборатории, необходимо термостатировать измерительную кювету и измерительную часть тензиометра, а также принять меры, предотвращающие испарение растворителя.

3. ОПРЕДЕЛЕНИЯ