ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

ГОСТ Р 8.698-2010

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Государственная система обеспечения единства измерений

РАЗМЕРНЫЕ ПАРАМЕТРЫ НАНОЧАСТИЦ И ТОНКИХ ПЛЕНОК

Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Methods for measurement by means of a small angle X-ray scattering difractometer

ОКС 17.040.01

Дата введения 2010-09-01

Предисловие

1 РАЗРАБОТАН Открытым акционерным обществом "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума", Федеральным государственным учреждением "Российский научный центр "Курчатовский институт", Государственным учреждением Российской академии наук "Институт кристаллографии им.А.В.Шубникова" и Государственным образовательным учреждением высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)"

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 441 "Нанотехнологии и наноматериалы"

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 10 февраля 2010 г. N 12-ст

4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

5 ПЕРЕИЗДАНИЕ. Март 2019 г.

Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)

1 Область применения

Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:

- максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;

- распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;

- общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм.

Настоящий стандарт распространяется на:

- материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров (далее - разбавленные системы наночастиц), с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;

- многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках.

2 Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:

ГОСТ 12.1.005-88 Система стандартов безопасности труда. Общие санитарно-гигиенические требования к воздуху рабочей зоны

ГОСТ 12.1.045-84 Система стандартов безопасности труда. Электростатические поля. Допустимые уровни на рабочих местах и требования к проведению контроля

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа

ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Номер документа

8.698-2010

Вид документа

Нормативно-технический документ

Классификация ОКС

17 Метрология и измерения. Физические явления 17.040 Линейные и угловые измерения

Статус

Скрыто

Дата принятия

Скрыто

Дата начала действия

Скрыто

Документ «ГОСТ Р 8 698 2010» устанавливает методику измерения размерных параметров наночастиц и тонких пленок с использованием малоуглового рентгеновского дифрактометра. Он является частью Государственной системы обеспечения единства измерений (ГСИ) и предназначен для применения в научных, исследовательских и производственных лабораториях, а также в организациях, занимающихся контролем качества материалов и изделий на основе нанотехнологий.

Основное назначение данного стандарта заключается в регламентировании методов измерений, необходимых для определения размерных характеристик наночастиц и тонких пленок. В документе описаны ключевые параметры, такие как углы дифракции, условия проведения измерений и требования к оборудованию. Также предусмотрены процедуры калибровки и валидации результатов, что обеспечивает высокую точность и воспроизводимость измерений.

Стандарт включает важные технические детали, такие как оптимальные условия испытаний, включая температуру и влажность, а также спецификации на используемое оборудование. Измеряемыми величинами являются размеры наночастиц, толщины пленок и их кристаллические характеристики. Эти параметры играют критическую роль в оценке свойств материалов и их применимости в различных отраслях, включая электронику, медицину и энергетику.

Целевая аудитория стандарта включает производителей, научные исследовательские учреждения, а также контролирующие органы, которые занимаются обеспечением качества и безопасности продукции. Применение данного документа способствует унификации подходов к измерениям в области нанотехнологий, что, в свою очередь, повышает доверие к результатам испытаний и обеспечивает их сопоставимость на международном уровне.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда, поскольку корректные измерения размерных параметров материалов могут предотвратить использование небезопасных или неэффективных веществ в производстве. Кроме того, стандартизация методов измерений способствует улучшению совместимости различных технологий и материалов, что актуально в условиях глобализации рынка.

В последующих редакциях документа могут быть внесены изменения, касающиеся уточнения методов испытаний или добавления новых параметров, что позволит более точно отражать современные достижения в области науки и техники. Это также обеспечит актуальность стандарта в условиях быстрого развития технологий и потребностей рынка.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.