Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Микроскопы электронные растровые. Методика поверки (Переиздание)
ГОСТ 8.594-2009
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
Государственная система обеспечения единства измерений
МИКРОСКОПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ РАСТРОВЫЕ
Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron microscopes. Verification methods
МКС 17.040.01
Предисловие
Цели, основные принципы и общие правила проведения работ по межгосударственной стандартизации установлены ГОСТ 1.0 "Межгосударственная система стандартизации. Основные положения" и ГОСТ 1.2 "Межгосударственная система стандартизации. Стандарты межгосударственные, правила и рекомендации по межгосударственной стандартизации. Порядок разработки, принятия, обновления и отмены"
1 РАЗРАБОТАН Открытым акционерным обществом "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (Россия), Федеральным государственным учреждением "Российский научный центр "Курчатовский институт" (Россия) и Государственным образовательным учреждением высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)" (Россия)
2 ВНЕСЕН Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии
3 ПРИНЯТ Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол от 11 ноября 2009 г. N 36)
За принятие проголосовали:
Краткое наименование страны по МК (ИСО 3166) 004-97 |
Код страны |
Сокращенное наименование национального органа по стандартизации |
Армения |
АМ |
Минторгэкономразвития |
Беларусь |
BY |
Госстандарт Республики Беларусь |
Казахстан |
KZ |
Госстандарт Республики Казахстан |
Киргизия |
KG |
Кыргызстандарт |
Молдова |
MD |
Молдова-Стандарт |
Россия |
RU |
Росстандарт |
Таджикистан |
TJ |
Таджикстандарт |
Узбекистан |
UZ |
Узстандарт |
Украина |
UA |
Госпотребстандарт Украины |
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ 8 594-2009» представляет собой методику поверки электронных растровых микроскопов в рамках Государственной системы обеспечения единства измерений (ГСИ). Основное назначение данного стандарта заключается в установлении требований к процедурам и методам поверки, что обеспечивает точность и достоверность измерений, получаемых с помощью этих устройств. Стандарт применяется в различных областях науки и промышленности, где используются электронные микроскопы для проведения исследований и контроля качества материалов.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы поверки, параметры измерений и требования к условиям испытаний. В документе описаны процедуры, которые необходимо соблюдать для обеспечения правильности работы микроскопов, включая проверки разрешающей способности, контрастности и других характеристик. Также указаны необходимые условия, при которых должны проводиться испытания, чтобы результаты были воспроизводимыми и сопоставимыми.
Технические детали, содержащиеся в стандарте, охватывают классификацию электронных растровых микроскопов, а также измеряемые величины, такие как разрешение, глубина поля и другие оптические параметры. Эти детали важны для лабораторий и организаций, занимающихся проведением поверки и калибровки микроскопов, так как они позволяют установить единые критерии оценки и контроля качества. Документ также включает рекомендации по выбору оборудования и методам его настройки для достижения оптимальных результатов.
Целевая аудитория стандарта включает производителей электронных микроскопов, аккредитованные лаборатории, а также контролирующие органы, осуществляющие надзор за соблюдением норм и стандартов в области измерений. Это позволяет обеспечить единство измерений и гарантировать высокое качество продукции, что особенно важно в научных исследованиях и производственных процессах. Стандарт служит основой для разработки внутренних процедур контроля качества и поверки оборудования на предприятиях.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость электронных микроскопов. Соблюдение требований ГОСТ 8 594-2009 способствует повышению надежности и точности измерений, что, в свою очередь, влияет на результаты научных исследований и качество производимой продукции. Стандарт также учитывает изменения и дополнения, которые были внесены в предыдущие версии, что позволяет адаптировать методику к современным требованиям и достижениям в области технологий.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»