Главная

Документы

ГОСТ Р 8.842-2013 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Средства измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов. Методика поверки

Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ Р 8.842-2013 Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Средства измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов. Методика поверки

ГОСТ Р 8.842-2013

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Государственная система обеспечения единства измерений

СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ ПОТОКА ИЗЛУЧЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗЛУЧАЮЩИХ ДИОДОВ

Методика поверки

State system for ensuring the uniformity of measurements. Instruments for measurement of radiation flux of semiconductor emitter diodes. Verification procedure

ОКС 17.020

Дата введения 2015-02-01

Предисловие

1 РАЗРАБОТАН Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений" (ФГУП "ВНИИОФИ")

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 386 "Основные нормы и правила по обеспечению единства измерений в области ультрафиолетовой спектрорадиометрии"

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 28 октября 2013 г. N 1287-ст

4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

5 ПЕРЕИЗДАНИЕ. Март 2019 г.

Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)

1 Область применения

Настоящий стандарт распространяется на средства измерений потока излучения (далее - ПИ) полупроводниковых излучающих диодов - радиометры, используемые в диапазоне длин волн 0,2-0,4 мкм в динамическом диапазоне 10-2·10 Вт, и устанавливает методику их поверки.

В качестве средств измерений ПИ полупроводниковых излучающих диодов используются радиометры-гониометры.

Межповерочный интервал - один год.

2 Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:

ГОСТ 8.197 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности потока излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, спектральной плотности силы излучения, потока и силы излучения в диапазоне длин волн 0,001-1,600 мкм

ГОСТ 8.552 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений потока излучения, энергетической освещенности, спектральной плотности энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,0004-0,400 мкм

ГОСТ Р 8.736 Государственная система обеспечения единства измерений. Измерения прямые многократные. Методы обработки результатов наблюдений. Основные положения

Примечание - При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных стандартов в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодному информационному указателю "Национальные стандарты", который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты" за текущий год. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом утверждения (принятия). Если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение рекомендуется применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.

3 Операции поверки

При проведении поверки выполняют операции, указанные в таблице 1.

Таблица 1


Наименование операции	Номер пункта настоящего стандарта	Проведение операций при поверке
		первичной

Название документа

Номер документа

8.842-2013

Вид документа

Нормативно-технический документ

Принявший орган

Росстандарт

Классификация ОКС

17 Метрология и измерения. Физические явления 17.020 Метрология и измерения в целом

Статус

Скрыто

Дата принятия

Скрыто

Дата начала действия

Скрыто

Документ «ГОСТ Р 8.842-2013» устанавливает требования к методике поверки средств измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов в рамках Государственной системы обеспечения единства измерений (ГСИ). Он применяется в различных сферах, включая научные исследования, промышленность и контроль качества, где используется данное оборудование. Стандарт обеспечивает единообразие и точность измерений, что важно для обеспечения надежности результатов испытаний и эксплуатации устройств.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы и процедуры поверки, параметры, которые необходимо контролировать, а также требования к оборудованию и условиям испытаний. Стандарт описывает необходимые измерительные устройства, их технические характеристики и условия, при которых должны проводиться испытания. Это включает в себя параметры, такие как температура, влажность и другие факторы, которые могут повлиять на точность измерений.

Среди важных технических деталей документа следует отметить классификацию полупроводниковых излучающих диодов и спецификации на измеряемые величины, такие как поток излучения и его распределение. Также в документе предусмотрены рекомендации по калибровке и настройке измерительных систем, что является критически важным для обеспечения достоверности получаемых данных. Эти рекомендации помогают пользователям правильно интерпретировать результаты и избегать ошибок в процессе измерений.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых излучающих диодов, лаборатории, занимающиеся их испытаниями, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение норм и стандартов в области измерений. Стандарт будет полезен для специалистов, занимающихся разработкой, производством и эксплуатацией таких устройств, а также для организаций, проводящих их проверку и сертификацию.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также на охрану труда. Применение данного документа способствует повышению надежности и точности измерений, что, в свою очередь, влияет на совместимость оборудования и его соответствие международным стандартам. Это важно для обеспечения безопасной эксплуатации устройств и минимизации рисков, связанных с ошибками в измерениях.

В документе также могут быть указаны изменения и дополнения, касающиеся обновленных методов поверки или новых требований к оборудованию. Эти изменения направлены на улучшение качества и точности измерений, а также на адаптацию к современным технологиям и требованиям рынка. Важно, чтобы пользователи стандарта были ознакомлены с этими изменениями для обеспечения актуальности своих процессов и методик.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.