Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ Р 59740-2021 Оптика и фотоника. Лазеры полупроводниковые для определения малых концентраций веществ. Методы измерений характеристик
ГОСТ Р 59740-2021
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Оптика и фотоника
ЛАЗЕРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАЛЫХ КОНЦЕНТРАЦИЙ ВЕЩЕСТВ
Методы измерений характеристик
Optics and photonics. Semiconductor lasers for the determination of low concentrations of substances. Methods for measuring characteristics
ОКС 31.260
Дата введения 2022-03-01
Предисловие
1 РАЗРАБОТАН Федеральным государственным унитарным предприятием "Научно-исследовательский институт физической оптики, оптики лазеров и информационных оптических систем Всероссийского научного центра "Государственный оптический институт им.С.И.Вавилова" (ФГУП "НИИФООЛИОС ВНЦ "ГОИ им.С.И.Вавилова")
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 296 "Оптика и фотоника"
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 12 октября 2021 г. N 1119-ст
4 Настоящий стандарт разработан с учетом основных нормативных положений международного стандарта ИСО 17915:2018* "Оптика и фотоника. Методы измерения характеристик полупроводниковых лазеров для оптического зондирования" (ISO 17915:2018 "Optics and photonics - Measurement method of semiconductor lasers for sensing", NEQ)
________________
* Доступ к международным и зарубежным документам, упомянутым в тексте, можно получить, обратившись в Службу поддержки пользователей. - Примечание изготовителя базы данных.
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)
1 Область применения
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые лазеры, используемые для определения малой концентрации веществ, (ППЛ) и устанавливает методы измерений температурной и токовой зависимости длин волн излучения и ширины спектральной линии ППЛ для этих применений.
Методы, установленные в настоящем стандарте, следует применять в соответствии с ГОСТ Р ИСО 13695.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
ГОСТ IEC 60825-1 Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 1. Классификация оборудования, требования и руководство для пользователей
ГОСТ Р ИСО 13695 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений спектральных характеристик лазеров
Примечание - При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных стандартов в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодному информационному указателю "Национальные стандарты", который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты" за текущий год. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом утверждения (принятия). Если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение рекомендуется применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.
3 Термины и определения
В настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями:
3.1 полупроводниковый лазер: Оптический полупроводниковый прибор, который испускает когерентное оптическое излучение в определенном направлении, используя стимулированное излучение, возникающее в результате электронного перехода при возбуждении электрическим током, превышающим пороговое значение.
3.2 полупроводниковый лазер с торцевым выводом излучения: Полупроводниковый лазер, испускающий когерентное оптическое излучение в направлении, параллельном плоскости р-n-перехода.
3.3 поверхностно-излучающий полупроводниковый лазер: Полупроводниковый лазер, испускающий когерентное оптическое излучение в направлении, перпендикулярном к плоскости р-n-перехода.
3.4 полупроводниковый лазер с формированием поперечных мод посредством сужения области усиления: Полупроводниковый лазер, в котором излучаемый свет распространяется вдоль области усиления, создаваемой инжекцией носителей, и усиливается за счет стимулированных процессов в области усиления.
3.5 полупроводниковый лазер с формированием поперечных мод пространственным распределением показателя преломления: Полупроводниковый лазер, в котором формируется полоска активного слоя с разностью показателей преломления между этой полосой и внешней областью.
3.6 полупроводниковый лазер с распределенной обратной связью; DFB: Полупроводниковый лазер, в котором стимулированное излучение селектируется по длине волны решеткой (эквивалентной распределенному зеркалу).
Примечание - Лазер работает в режиме одной продольной моды.
3.7 полупроводниковый лазер с распределенным брэгговским отражателем; DBR: Полупроводниковый лазер, в котором селекция длины волны излучения осуществляется брэгговской решеткой (эквивалентной распределенному зеркалу), созданной не внутри, а вне (с одной или с обеих сторон от) светоизлучающего слоя.
Примечание - Лазер работает в режиме одной продольной моды.
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ Р 59740 2021» устанавливает требования и методы измерений характеристик полупроводниковых лазеров, используемых для определения малых концентраций веществ. Он предназначен для применения в области оптики и фотоники, охватывая как научные, так и промышленные сферы, где требуется высокая точность и надежность в измерениях. Стандарт охватывает широкий спектр приложений, включая экологический мониторинг, анализ качества воздуха и контроль за технологическими процессами.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы измерения, параметры, требования к оборудованию и процедурам тестирования. В документе подробно описываются условия испытаний, включая необходимые характеристики лазеров, такие как длина волны, мощность и стабильность излучения. Также рассматриваются требования к калибровке и валидации измерительных систем, что обеспечивает достоверность полученных данных.
Важные технические детали включают классификацию полупроводниковых лазеров по их характеристикам и области применения, а также перечень измеряемых величин, таких как концентрация анализируемых веществ и уровень фона. Стандарт также определяет условия окружающей среды, в которых должны проводиться измерения, чтобы гарантировать их точность и воспроизводимость. Это позволяет пользователям стандарта проводить корректные и сопоставимые измерения в различных условиях.
Целевая аудитория документа включает производителей лазерного оборудования, научные и исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся оценкой соответствия и качеством продукции. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих методов, что способствует повышению уровня безопасности и качества в различных отраслях. Он также может быть использован для подготовки специалистов, работающих с лазерными технологиями.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и охрану труда. Соблюдение требований ГОСТ Р 59740 2021 способствует снижению рисков, связанных с использованием лазерных технологий, и повышению надежности результатов измерений. В документе также могут быть указаны изменения или дополнения, касающиеся новых технологий или методов, что обеспечивает актуальность и соответствие современным требованиям отрасли.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
ГОСТ Р 59739-2021 Оптика и фотоника. Покрытия оптические. Классификация
ГОСТ Р 59738-2021 Оптика и фотоника. Решетки дифракционные. Типы, основные размеры и параметры
ГОСТ Р 59737-2021 Оптика и фотоника. Элементы оптические голограммные синтезированные осевые. Общие технические условия
ГОСТ Р 59741-2021 (ИСО 11554:2017) Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Методы определения мощности, энергии и временных характеристик лазерного излучения
ГОСТ Р 59742-2021 (ИСО 13697:2006) Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Элементы оптические для лазерного оборудования. Методы определения коэффициента зеркального отражения и коэффициента направленного пропускания
ГОСТ Р 59743.1-2021 (ИСО 14880-1:2019) Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 1. Термины и определения. Классификация