Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
ГОСТ Р 71071-2023 Микросхемы интегральные. Схемы задержки. Система параметров
ГОСТ Р 71071-2023
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ. СХЕМЫ ЗАДЕРЖКИ
Система параметров
Integrated circuits. Delay circuits. Parameters system
ОКС 31.200
Дата введения 2024-03-01
Предисловие
1 РАЗРАБОТАН Акционерным обществом "Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" (АО "РНИИ "Электронстандарт")
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 303 "Электронная компонентная база, материалы и оборудование"
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 31 октября 2023 г. N 1309-ст
4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)
1 Область применения
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микросхемы схем задержек (далее - микросхемы).
Стандарт устанавливает состав параметров и типовых характеристик микросхем, подлежащих включению в технические условия (ТУ) или стандарты на микросхемы при их разработке или пересмотре.
Стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов.
Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации микросхем в соответствии с действующим законодательством.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использована нормативная ссылка на следующий стандарт:
ГОСТ Р 57441 Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров
Примечание - При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных стандартов в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети интернет или по ежегодному информационному указателю "Национальные стандарты", который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты" за текущий год. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом утверждения (принятия). Если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение рекомендуется применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.
3 Термины и определения
В настоящем стандарте применены термины по ГОСТ Р 57441, а также следующие термины с соответствующими определениями:
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «ГОСТ Р 71071 2023» представляет собой национальный стандарт, регламентирующий параметры и методы испытаний интегральных схем задержки. Основное назначение стандарта заключается в установлении единой системы параметров, необходимых для оценки функциональных характеристик и надежности таких микросхем. Данный стандарт находит применение в области разработки, производства и контроля качества интегральных схем, обеспечивая соответствие продукции современным требованиям и международным нормам.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми стандартом, являются методы испытаний, параметры, а также требования к документации и маркировке интегральных схем задержки. Стандарт описывает процедуры измерения временных задержек, стабильности параметров в различных условиях эксплуатации, а также методы оценки надежности и долговечности микросхем. Это позволяет производителям и лабораториям проводить точные и воспроизводимые испытания, что способствует повышению качества выпускаемой продукции.
Важные технические детали, указанные в стандарте, включают условия испытаний, такие как температура, влажность и напряжение питания, которые должны быть строго соблюдены для обеспечения корректности результатов. Также предусмотрены классификации интегральных схем по различным критериям, что позволяет более точно определять их область применения. Измеряемые величины, такие как временные задержки и стабильность параметров, играют ключевую роль в оценке качества микросхем.
Целевая аудитория стандарта включает производителей интегральных схем, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, отвечающие за соблюдение стандартов качества в области электроники. Стандарт предоставляет необходимую информацию для специалистов, занимающихся разработкой и тестированием микросхем, что способствует улучшению сотрудничества между различными участниками рынка.
Практическое значение стандарта «ГОСТ Р 71071 2023» заключается в его влиянии на безопасность и качество интегральных схем, а также на совместимость с другими электронными компонентами. Соблюдение данного стандарта позволяет минимизировать риски, связанные с эксплуатацией микросхем, что, в свою очередь, повышает общую надежность электронных устройств. Изменения и дополнения, внесенные в данный стандарт, касаются уточнения методов испытаний и расширения перечня регламентируемых параметров, что отражает современные тенденции в области разработки интегральных схем.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»