Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS EN 62417-2010 Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) Полупроводниковые устройства - Тесты на подвижные ионы для полевых транзисторов металл-оксид-полупроводник (MOSFETs)
Документ «BS EN 62417-2010» предназначен для стандартизации испытаний мобильных ионов в полевых транзисторах с металлооксидной средой (MOSFET). Он применяется в различных областях, связанных с производством и тестированием полупроводниковых устройств, для обеспечения научной и технической согласованности в этой сфере.
Основные регламентируемые аспекты документа включают методы испытаний, параметры и требования, касающиеся определения воздействия мобильных ионов на MOSFET. Стандарт описывает методики тестирования, включающие определение пределов и условий испытаний, а также необходимые измерения для оценки характеристик устройств.
Ключевыми техническими деталями являются условия, при которых проводятся испытания, такие как температура, влажность, а также спецификации на измеряемые величины, включая напряжение и ток. Эти условия играют важную роль в обеспечении точности и повторяемости результатов тестирования.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и проверкой качества. Данный документ служит важным инструментом для обеспечения совместимости и надежности продукции в условиях современных требований.
Практическое значение стандарта заключается в повышении безопасности и качества полупроводниковых устройств, а также в улучшении условий труда при производстве. Стандарт способствует снижению рисков, связанных с эксплуатацией таких устройств, путем обеспечения предварительного тестирования и проверки их параметров.
В последние годы были внесены изменения в документ, направленные на уточнение методов испытаний и расширение диапазона условий, при которых проводятся тесты. Эти изменения оказывают влияние на процесс сертификации и могут повлиять на принятие новой продукции на рынок.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
BS EN 62416-2010 Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
Полупроводниковые устройства - Тест горячих носителей на MOS-транзисторах
BS EN 62415-2010 Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Полупроводниковые устройства - Тест на постоянный ток электромиграции
BS EN 62403-2006 High density recording format on CD-R/RW disc system HD-BURN format
Формат высокой плотности записи на диске CD-R/RW система HD-BURN format
BS EN 62418-2010 Semiconductor devices - Metallization stress void test
Полупроводниковые устройства - Тест на напряжение трещин металлизации
BS EN 62419-2009 Control technology - Rules for the designation of measuring instruments
Технология управления - Правила обозначения измерительных приборов
BS EN 62420-2008 Concentric lay stranded overhead electrical conductors containing one or more gap(s)
Концентрические провода с изолированными жилами для воздушных линий электропередач, содержащие одну или несколько зазоров