Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS IEC 60747-8-2010 + A1-2021
Документ «BS IEC 60747-8-2010 + A1-2021» определяет стандарты для полупроводниковых приборов и их применение в электронных устройствах. Основная цель данного документа заключается в установлении методов испытаний и параметров, необходимых для оценки производительности и надёжности полупроводников. Стандарт охватывает требования к материалам, конструкции и методам испытаний, обеспечивая единообразие в производстве и контроле качества полупроводниковых компонентов.
Ключевыми аспектами документа являются методы испытаний, параметры измерения и требования к характеристикам полупроводников. В частности, стандарт регулирует условия, при которых проводятся испытания, и устанавливает критерии для классификации типов полупроводников. Также описаны методы измерения электрических и температурных характеристик, что позволяет гарантировать соответствие продукции установленным нормативам.
Среди важных технических деталей упоминаются специфические условия испытаний, включая температурные диапазоны и необходимые установки для выдержки изделий под определёнными нагрузками. Кроме того, в документе рассматриваются классификации полупроводниковых компонентов, которые помогают производителям и лабораториям упростить процесс разработки новых изделий и доставки их на рынок. Стандарт также указывает измеряемые величины, которые необходимы для полноценной оценки качества продукции.
Целевая аудитория документа включает производителей полупроводниковых компонентов, исследовательские лаборатории и контролирующие органы. Стандарт предоставляет рекомендации для производителей, обеспечивая гарантии качества и безопасности производимых устройств. Лаборатории могут использовать этот документ для разработки методов тестирования и оценки соответствия, что, в свою очередь, помогает поддерживать уровень сертификации изделий.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых устройств. Соблюдение рекомендаций, представленных в документе, способствует снижению рисков, связанных с использованием полупроводников в критически важных системах. В дополнении A1-2021 к стандарту внесены изменения, касающиеся новых методов тестирования и уточнения параметров, что приводит к повышению актуальности стандарта в условиях современных технологий.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 60747-7-5-2005 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7-5: Bipolar transistors for power switching applications
BS IEC 60747-7-2010 + A1-2019
BS IEC 60747-6-2016 Semiconductor devices Part 6: Discrete devices — Thyristors
BS IEC 60747-8-4-2004 Discrete semiconductor devices Part 8-4: Metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications)
IEC 60747-9-2019 Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
BS IEC 60748-2-20-2008 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits