495963349 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS IEC 60748-2-20-2008 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 2-20: Цифровые интегральные схемы - Спецификация семейства - Низковольтные интегральные схемы

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
BS IEC 60748-2-20-2008 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 2-20: Цифровые интегральные схемы - Спецификация семейства - Низковольтные интегральные схемы
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS IEC 60748-2-20-2008» посвящён спецификациям для полупроводниковых интегральных схем, особенно в контексте цифровых интегральных схем. Основное назначение данного стандарта — обеспечение единообразия в производстве и тестировании низковольтных интегральных схем, что позволяет обеспечить надёжность и совместимость компонентов. Стандарт регулирует различные аспекты, включая методы измерений, рабочие параметры и требования к качеству, что делает его важным инструментом в отрасли.

Ключевые аспекты документа включают методы испытаний, параметры рабочих условий и требования к конструкции интегральных схем. Особое внимание уделяется измеряемым величинам, таким как напряжение, ток и частота, что помогает определить эффективность и надёжность элементов. Эти параметры имеют критическое значение для производителей, так как их соблюдение влияет на производительность и долговечность конечной продукции.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, лаборатории, занимающиеся тестированием компонентов, а также органы, контролирующие соответствие продукции установленным требованиям. Стандарт представляет собой важный ресурс для инженеров и техников, обеспечивая понимание актуальных методик и требований, необходимых для успешного внедрения технологий в производственные процессы.

Практическое значение «BS IEC 60748-2-20-2008» заключается в его влиянии на безопасность и качество интегральных схем. Соблюдение данного стандарта помогает предотвратить дефекты, минимизировать риски и повысить безопасность эксплуатации электронных устройств. Влияние на охрану труда и совместимость компонентов подчеркивает важность применения данного документа в повседневной практике разработчиков и производителей.

В последующих редакциях стандарта могла быть учтена новая информация, касающаяся улучшения методов испытаний и обновления требований к материалам. Эти изменения направлены на адаптацию документа к современным технологиям и запросам рынка, что делает его актуальным инструментом для повышения качества и безопасности интегральных схем.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-9-2019 Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) Полупроводниковые устройства - Часть 9: Отдельные устройства - Изолированные затворные биполярные транзисторы (IGBT) PDF BS IEC 60747-8-4-2004 Discrete semiconductor devices Part 8-4: Metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications) Отдельные полупроводниковые устройства Часть 8-4: Полевые транзисторы с металлооксидным полупроводниковым слоем (MOSFETs) для применения в силовых переключателях) PDF BS IEC 60747-8-2010 + A1-2021 PDF BS IEC 60748-23-1-2002 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 23-1: Hybrid Integrated Circuits and Film Structures - Manufacturing Line Certification - Generic Specification Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 23-1: Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры - Сертификация производственной линии - Общая спецификация PDF IEC 60748-4-3-2006 Semiconductor devices – Integrated circuits – Part 4-3: Interface integrated circuits – Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC) Полупроводниковые устройства – Интегральные схемы – Часть 4-3: Интерфейсные интегральные схемы – Динамические критерии для аналого-цифровых преобразователей (ADC) PDF BS IEC 60755-1-2022 General safety requirements for residual current operated protected devices Part 1: Residual current operated protective devices for DC systems Общие требования безопасности для устройств защитного отключения по residual current Часть 1: Устройства защитного отключения по residual current для систем постоянного тока