495963351 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS IEC 60748-23-1-2002 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 23-1: Hybrid Integrated Circuits and Film Structures - Manufacturing Line Certification - Generic Specification Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 23-1: Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры - Сертификация производственной линии - Общая спецификация

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
BS IEC 60748-23-1-2002 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 23-1: Hybrid Integrated Circuits and Film Structures - Manufacturing Line Certification - Generic Specification Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 23-1: Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры - Сертификация производственной линии - Общая спецификация
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS IEC 60748-23-1-2002» охватывает стандарты для полупроводниковых устройств, охватывающие гибридные интегральные схемы и пленочные структуры. Основное назначение данного документа заключается в предоставлении общих требований к сертификации производственной линии для этих компонентов. Он применяется в области разработки, производства и тестирования интегральных схем, что является критически важным для обеспечения безопасности и функциональности электронных устройств.

Ключевыми аспектами документа являются методы и процедуры, регламентирующие сертификацию гибридных интегральных схем. В частности, он описывает параметры, которые необходимо оценивать, а также требования к тестированию и измеряемым величинам, что гарантирует соответствие продукции заявленным характеристикам. Документ также включает в себя различные классификации устройств, что упрощает их понимание и использование на производственных линиях.

Важные технические детали включают условия, при которых проводятся испытания, и необходимые параметры для их оценки. Процедуры измерений прописаны в документе, что позволяет гарантировать высокую степень точности и надежности получаемых результатов. Эти детали обеспечивают соответствие продукции международным стандартам качества и безопасности.

Целевая аудитория документа включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории и контролирующие органы. Таким образом, документ служит важным ресурсом для профессионалов, работающих в области электроники, обеспечивая их необходимой информацией для соблюдения норм и стандартов.

Практическое значение стандарта заключается в его способности улучшать качество и безопасность производства полупроводниковых устройств. Он также поддерживает стандарты охраны труда на производстве, гарантируя, что рабочие условия соответствуют требованиям. Совместимость с другими стандартами дополнительно повышает надежность и эффективность применения этих компонентов в различных устройствах.

В документе также были внесены изменения и дополнения, которые отражают современные требования к производственным процессам. Эти обновления включают уточнения методов испытаний и актуализацию параметров, что обостряет внимание к новым технологиям и материалам в производстве полупроводниковых устройств.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS IEC 60748-2-20-2008 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 2-20: Цифровые интегральные схемы - Спецификация семейства - Низковольтные интегральные схемы PDF IEC 60747-9-2019 Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) Полупроводниковые устройства - Часть 9: Отдельные устройства - Изолированные затворные биполярные транзисторы (IGBT) PDF BS IEC 60747-8-4-2004 Discrete semiconductor devices Part 8-4: Metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications) Отдельные полупроводниковые устройства Часть 8-4: Полевые транзисторы с металлооксидным полупроводниковым слоем (MOSFETs) для применения в силовых переключателях) PDF IEC 60748-4-3-2006 Semiconductor devices – Integrated circuits – Part 4-3: Interface integrated circuits – Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC) Полупроводниковые устройства – Интегральные схемы – Часть 4-3: Интерфейсные интегральные схемы – Динамические критерии для аналого-цифровых преобразователей (ADC) PDF BS IEC 60755-1-2022 General safety requirements for residual current operated protected devices Part 1: Residual current operated protective devices for DC systems Общие требования безопасности для устройств защитного отключения по residual current Часть 1: Устройства защитного отключения по residual current для систем постоянного тока PDF BS IEC 60768-2009 Nuclear power plants - Instrumentation important to safety - Equipment for continuous in-line or on-line monitoring of radioactivity in process streams for normal and incident conditions Атомные электростанции — Измерительные системы, важные для безопасности — Оборудование для непрерывного в-line или on-line мониторинга радиоактивности в потоках процесса для нормальных и инцидентных условий