Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
BS IEC 60748-2-20-2008 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits
Документ «BS IEC 60748-2-20-2008» посвящён спецификациям для полупроводниковых интегральных схем, особенно в контексте цифровых интегральных схем. Основное назначение данного стандарта — обеспечение единообразия в производстве и тестировании низковольтных интегральных схем, что позволяет обеспечить надёжность и совместимость компонентов. Стандарт регулирует различные аспекты, включая методы измерений, рабочие параметры и требования к качеству, что делает его важным инструментом в отрасли.
Ключевые аспекты документа включают методы испытаний, параметры рабочих условий и требования к конструкции интегральных схем. Особое внимание уделяется измеряемым величинам, таким как напряжение, ток и частота, что помогает определить эффективность и надёжность элементов. Эти параметры имеют критическое значение для производителей, так как их соблюдение влияет на производительность и долговечность конечной продукции.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, лаборатории, занимающиеся тестированием компонентов, а также органы, контролирующие соответствие продукции установленным требованиям. Стандарт представляет собой важный ресурс для инженеров и техников, обеспечивая понимание актуальных методик и требований, необходимых для успешного внедрения технологий в производственные процессы.
Практическое значение «BS IEC 60748-2-20-2008» заключается в его влиянии на безопасность и качество интегральных схем. Соблюдение данного стандарта помогает предотвратить дефекты, минимизировать риски и повысить безопасность эксплуатации электронных устройств. Влияние на охрану труда и совместимость компонентов подчеркивает важность применения данного документа в повседневной практике разработчиков и производителей.
В последующих редакциях стандарта могла быть учтена новая информация, касающаяся улучшения методов испытаний и обновления требований к материалам. Эти изменения направлены на адаптацию документа к современным технологиям и запросам рынка, что делает его актуальным инструментом для повышения качества и безопасности интегральных схем.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 60747-9-2019 Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
BS IEC 60747-8-4-2004 Discrete semiconductor devices Part 8-4: Metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications)
BS IEC 60747-8-2010 + A1-2021
BS IEC 60748-23-1-2002 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 23-1: Hybrid Integrated Circuits and Film Structures - Manufacturing Line Certification - Generic Specification
IEC 60748-4-3-2006 Semiconductor devices – Integrated circuits – Part 4-3: Interface integrated circuits – Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)
BS IEC 60755-1-2022 General safety requirements for residual current operated protected devices Part 1: Residual current operated protective devices for DC systems