Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60444-1-1986 amd1-1999 AMD1-1999

Название документа
IEC 60444-1-1986 amd1-1999 AMD1-1999
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60444-1-1986 amd1-1999» представляет собой стандарт, разработанный Международной Electrotechnical Commission (IEC), целью которого является установление методов и параметров измерения для различных типов электрических оборудования. Основное назначение документа заключается в обеспечении единства и точности измерений, а также в стандартизации процедур, используемых при тестировании и оценке продукции. Стандарт находит применение в области электротехники и электроники, включая приборы, системы и устройства, где необходимо обеспечить высокое качество измерений.

Ключевыми регламентируемыми аспектами документа являются методы испытаний, критерии оценки, а также параметры, касающиеся точности и достоверности измерений. Документ определяет процедуры для регулярной калибровки и верификации оборудования, что позволяет гарантировать соответствие международным стандартам. Кроме того, акцентируется внимание на требованиях к проведению испытаний в контролируемых условиях, что важно для соблюдения всех стандартов безопасности и качества.

Важные технические детали, описанные в стандарте, включают условия испытаний, классификации и измеряемые величины, такие как напряжение, ток и частота. Эти параметры являются критическими для обеспечения точности и надежности результатов. Стандарт также содержит указания относительно условий работы приборов, что позволяет пользователям лучше понимать влияние окружающей среды на результаты измерений.

Целевая аудитория документа включает производителей электрического оборудования, аккредитованные лаборатории и контролирующие органы, ответственные за соблюдение норм и стандартов качества. Стандарт служит важным инструментом для специалистов в области электротехники и позволяет поддерживать высокий уровень надежности и безопасности продуктов, поставляемых на рынок. Основанные на стандарте процедуры помогают в оценке качества и безопасности в процессе разработки и эксплуатации электрооборудования.

Практическое значение стандарта «IEC 60444-1-1986 amd1-1999» заключается в его влиянии на обеспечение безопасности и качества продукции, а также совместимости с международными нормами. Применение стандарта способствует улучшению охраны труда и снижению рисков, связанных с использованием электротехнического оборудования. В 1999 году были введены изменения и дополнения, которые уточнили существующие требования и добавили новые рекомендации по методам измерений, что значительно повысило актуальность документа на современном этапе.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60443-1974 Stabilized supply apparatus for measurement Установки стабилизированного питания для измерений PDF IEC 60442-2003 Electric toasters for household and similar purposes Methods for measuring the performance Электрические тостеры для домашнего использования и похожих целей Методы измерения производительности PDF IEC 60441-1974 Photometric and colorimetric methods of measurement of the light emitted by a cathode-ray tube screen Фотометрические и колориметрические методы измерения света, излучаемого экраном электронно-лучевой трубки PDF IEC 60444-1-1986 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-netwo Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора методом нулевой фазы в П-сети - Часть 1: Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллических резонаторов методом нулевой фазы в П-сети PDF IEC 60444-11-2010 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction - Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора – Часть 11: Стандартный метод определения резонансной частоты нагрузки fL и эффективной нагрузочной емкости CLeff с использованием автоматических методов анализа сети и коррекции ошибок - PDF IEC 60444-2-1980 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters by Zero Phase Technique in a PI-Network Part 2: Phase Offset Method for Measurement of Motional Capacitance of Quartz Crystal Units Измерение параметров кварцевого резонатора методом нулевой фазы в ПИ-сети Часть 2: Метод смещения фазы для измерения мотивной емкости кварцевых резонаторов