Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60444-11-2010 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction - Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора – Часть 11: Стандартный метод определения резонансной частоты нагрузки fL и эффективной нагрузочной емкости CLeff с использованием автоматических методов анализа сети и коррекции ошибок -

Название документа
IEC 60444-11-2010 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction - Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора – Часть 11: Стандартный метод определения резонансной частоты нагрузки fL и эффективной нагрузочной емкости CLeff с использованием автоматических методов анализа сети и коррекции ошибок -
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60444-11-2010» описывает стандартный метод измерения параметров кварцевых резонаторов, конкретно направленный на определение частоты нагрузки резонанса fL и эффективной нагрузки емкости CLeff с использованием автоматизированных методов измерения и коррекции ошибок. Этот стандарт применяется в области разработки и производства резонаторов, а также в испытательных лабораториях, занимающихся проверкой электронных компонентов.

Методы, описанные в документе, включают использование сетевых анализаторов для точного и надежного определения резонансной частоты и связанных параметров. Регламентируются требования к настройке оборудования, условиям испытаний и процедурам, что обеспечивает единообразие и повторяемость результатов в различных лабораторных условиях. Озвучиваются ключевые параметры, которые должны быть измерены и оценены в процессе испытаний.

Технические детали документа включают спецификации по условиям проведения испытаний, включая температуру, стабильность напряжения и частоты. Эти аспекты важны для получения точных и надежных данных о кварцевых резонаторах, а также их классификации по различным параметрам. Измеряемые величины fL и CLeff являются критически важными для понимания рабочих характеристик резонаторов и их применения в различных устройствах.

Целевая аудитория стандарта включает производителей электроники, исследовательские лаборатории и органы, осуществляющие контроль качества. Понимание и применение этого стандарта актуально как для разработчиков, так и для тех, кто проводит тестирование и сертификацию электронных изделий, что подчеркивает его значимость в индустрии.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на качество, безопасность и надежность конечных продуктов. Ориентируясь на стандарты, производители могут повысить уровень совместимости и снизить риск неисправностей в конечных устройствах. Изменения, внесенные в последнюю редакцию документа, могут касаться уточнений в методах измерений и требований к оборудованию, что значительно улучшает надежность проведенных измерений.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60444-1-1986 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-netwo Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора методом нулевой фазы в П-сети - Часть 1: Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллических резонаторов методом нулевой фазы в П-сети PDF IEC 60444-1-1986 amd1-1999 AMD1-1999 PDF IEC 60443-1974 Stabilized supply apparatus for measurement Установки стабилизированного питания для измерений PDF IEC 60444-2-1980 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters by Zero Phase Technique in a PI-Network Part 2: Phase Offset Method for Measurement of Motional Capacitance of Quartz Crystal Units Измерение параметров кварцевого резонатора методом нулевой фазы в ПИ-сети Часть 2: Метод смещения фазы для измерения мотивной емкости кварцевых резонаторов PDF IEC 60444-5-1995 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора - Часть 5: Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием автоматических методов анализа сети и коррекции ошибок PDF IEC 60444-6-2021 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора - Часть 6: Измерение зависимости уровня ввода (DLD)