Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60444-5-1995 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора - Часть 5: Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием автоматических методов анализа сети и коррекции ошибок

Название документа
IEC 60444-5-1995 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора - Часть 5: Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием автоматических методов анализа сети и коррекции ошибок
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60444-5-1995» посвящён измерению параметров кварцевых кристаллов и описывает методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием техник автоматического сетевого анализа и коррекции ошибок. Главная цель этого стандарта заключается в стандартизации процедур и методов, применяемых для оценки характеристик кварцевых кристаллов, которые используются в различных электронных устройствах и системах. Стандарт обеспечивает единую практику, способствующую повышению точности измерений и сопоставимости результатов между различными лабораториями.

В документе изложены ключевые аспекты, касающиеся методов измерения, включая условия испытаний, параметры, которые должны соблюдаться, и требования к оборудованию. Особое внимание уделено методам автоматического сетевого анализа, которые позволяют более точно оценивать электрические характеристики кварцевых кристаллов, а также необходимым процедурам коррекции ошибок, которые могут возникать в процессе измерений. Эти методы могут применяться как в научных исследованиях, так и в практических внедрениях в промышленности.

Среди важных технических деталей, рассмотренных в стандарте, выделяются классификация измеряемых величин, а также условия, в которых проводятся испытания. Стандарт описывает необходимые параметры окружающей среды, такие как температура и влажность, которые могут повлиять на результаты измерений. Это позволяет пользователям стандарта получить более точные и надежные данные при оценке кварцевых кристаллов.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители кварцевых кристаллов, лаборатории, занимающиеся их испытанием, а также контролирующие органы, обеспечивающие соблюдение стандартизированных процедур и контроля качества. Стандарт служит основой для разработки и регулирования процессов производства и испытаний, что важно для соблюдения международных требований качества и безопасности.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество в производстве электрических компонентов, что, в свою очередь, обеспечивает высокую совместимость устройств. Стандарт также учитывает возможные изменения и дополнения, что позволяет ему оставаться актуальным в свете технологических новшеств и требований рынка. Все эти аспекты делают «IEC 60444-5-1995» важным документом для всех, кто работает с кварцевыми кристаллами и связанными технологиями.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60444-2-1980 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters by Zero Phase Technique in a PI-Network Part 2: Phase Offset Method for Measurement of Motional Capacitance of Quartz Crystal Units Измерение параметров кварцевого резонатора методом нулевой фазы в ПИ-сети Часть 2: Метод смещения фазы для измерения мотивной емкости кварцевых резонаторов PDF IEC 60444-11-2010 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction - Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора – Часть 11: Стандартный метод определения резонансной частоты нагрузки fL и эффективной нагрузочной емкости CLeff с использованием автоматических методов анализа сети и коррекции ошибок - PDF IEC 60444-1-1986 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-netwo Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора методом нулевой фазы в П-сети - Часть 1: Основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллических резонаторов методом нулевой фазы в П-сети PDF IEC 60444-6-2021 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора - Часть 6: Измерение зависимости уровня ввода (DLD) PDF IEC 60444-7-2004 Measurement of quartz crystal unit parameters . Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора . Часть 7: Измерение активности и частотных провалов кварцевых кристаллических резонаторов PDF IEC 60444-8-2016 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора – Часть 8: Приспособление для тестирования поверхностно установленных кварцевых кристаллических резонаторов