Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60444-7-2004 Measurement of quartz crystal unit parameters . Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора . Часть 7: Измерение активности и частотных провалов кварцевых кристаллических резонаторов

Название документа
IEC 60444-7-2004 Measurement of quartz crystal unit parameters . Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора . Часть 7: Измерение активности и частотных провалов кварцевых кристаллических резонаторов
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60444-7-2004» посвящён измерению параметров кварцевых резонаторов. Он является важным стандартом для определения активности и частотных провалов кварцевых кристаллов, что критично для множества электронных устройств. Основное назначение этого стандарта заключается в унификации процессов измерения и оценке характеристик кварцевых кристаллов, обеспечивая тем самым высокое качество и надёжность конечных изделий.

Основные регламентируемые аспекты документа включают стандартизованные методы измерения, параметры, такие как частота резонанса, а также требования к условиям испытаний. Документ описывает различные процедуры и технологии, используемые для определения активности резонаторов, что позволяет поддерживать стандарты качества в производстве. Он также определяет все необходимые параметры, которые должны быть учтены при проведении измерений.

Что касается технических деталей, документ требует проведения испытаний при заданных условиях, которые включают температуру, давление и другие факторы, влияющие на функциональность кварцевых кристаллов. Измеряемые величины включают частоту, активность и другие специфичные параметры, которые играют ключевую роль в функционировании электронных устройств. Эти аспекты важны для точного контроля качества продукции, а также для оптимизации производственных процессов.

Целевая аудитория стандарта охватывает широкий круг специалистов: от производителей и лабораторий до контролирующих органов. Он предоставляет необходимую информацию тем, кто занимается разработкой и производством электроники, а также тем, кто осуществляет контроль качества и сертификацию продукции. Стандарт является важным ресурсом для всех, кто заинтересован в соблюдении норм и стандартов в этой области.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество электронных устройств. Применение регламентируемых методов измерения способствует снижению рисков, связанных с использованием неисправных компонентов, а также повышает совместимость различных электронных систем. В случае наличия изменений или дополнений, они обычно касаются актуализации методов измерений или уточнения параметров, что делает стандарт современным и соответствующим текущим требованиям промышленности.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60444-6-2021 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора - Часть 6: Измерение зависимости уровня ввода (DLD) PDF IEC 60444-5-1995 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора - Часть 5: Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием автоматических методов анализа сети и коррекции ошибок PDF IEC 60444-2-1980 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters by Zero Phase Technique in a PI-Network Part 2: Phase Offset Method for Measurement of Motional Capacitance of Quartz Crystal Units Измерение параметров кварцевого резонатора методом нулевой фазы в ПИ-сети Часть 2: Метод смещения фазы для измерения мотивной емкости кварцевых резонаторов PDF IEC 60444-8-2016 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора – Часть 8: Приспособление для тестирования поверхностно установленных кварцевых кристаллических резонаторов PDF IEC 60444-9-2007 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 9: Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units Измерение параметров кварцевого кристаллического резонатора – Часть 9: Измерение паразитных резонансов пьезоэлектрических кристаллических резонаторов PDF IEC 60445-2021 Basic and safety principles for man-machine interface, marking and identification - Identification of equipment terminals, conductor terminations and conductors Основные и безопасные принципы для интерфейса человек-машина, маркировки и идентификации - Идентификация терминалов оборудования, соединений проводников и проводников