Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 60444-8-2016 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Документ «IEC 60444-8-2016» устанавливает стандарты для измерения параметров кварцевых кристаллов в упаковке, монтируемой на поверхности. Его основное назначение заключается в описании тестового устройства, предназначенного для точного измерения различных характеристик кварцевых единиц. Этот стандарт используется в области разработки и производства электронных компонентов, где кварцевые кристаллы играют важную роль в управлении частотой.
Ключевыми аспектами данного документа являются методы испытаний, параметры, которые необходимо измерять, и требования к тестовым устройствам. Стандарт определяет процедуры, которые должны быть выполнены для получения точных данных, а также условия, при которых проведены испытания. Все это помогает обеспечить унификацию и воспроизводимость результатов при тестировании.
Важные технические детали включают тестовые методы, спецификации для тестового оборудования и классификацию измеряемых величин, таких как частота резонанса, эквивалентное последовательное сопротивление и другие параметры. Документ также описывает условия окружающей среды, при которых должны проводиться испытания, чтобы избежать нежелательных отклонений в измерениях.
Целевая аудитория стандарта включает производителей кварцевых кристаллов, исследовательские лаборатории и регулирующие органы, заинтересованные в контроле качества и безопасности данных компонентов. Указания, содержащиеся в документе, важны для обеспечения соответствия продукции международным требованиям и стандартам безопасности.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество кварцевых кристаллов, а также на их совместимость с другими электронными компонентами. Следование этим нормам способствует улучшению производственных процессов, снижает риски возникновения аварийных ситуаций и повышает общую надежность конечной продукции. Текущая версия документа может содержать обновленные методы и рекомендации, что подчеркивает важность постоянного соблюдения актуальных стандартов для достижения высоких результатов в производстве и тестировании.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 60444-7-2004 Measurement of quartz crystal unit parameters . Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units
IEC 60444-6-2021 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
IEC 60444-5-1995 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction
IEC 60444-9-2007 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 9: Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units
IEC 60445-2021 Basic and safety principles for man-machine interface, marking and identification - Identification of equipment terminals, conductor terminations and conductors
IEC 60446-2007 Basic and safety principles for man-machine interface, marking and identification - Identification of conductors by colours or alphanumerics