Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-17-2020 cor1-2021 IEC 60747-17-2020 cor1-2021

Название документа
IEC 60747-17-2020 cor1-2021 IEC 60747-17-2020 cor1-2021
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-17-2020 cor1-2021» представляет собой стандарт, регулирующий методы испытаний оптоэлектронных компонентов на соответствие основным требованиям безопасности и функциональности. Он предназначен для применения в различных областях, включая электронику, телекоммуникации и автоматизацию, что позволяет специалистам обеспечивать высокое качество и надежность устройств на основе оптоэлектроники.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы проведения испытаний, параметры и требования к характеристикам оптоэлектронных компонентов. Стандарт включает подробные процедуры тестирования, направленные на оценку производительности, надежности и безопасности этих компонентов в различных эксплуатационных условиях. Также рассмотрены особые ситуации, которые могут возникнуть при работе оборудования.

Важные технические детали, изложенные в документе, касаются условий испытаний, таких как температура, влажность и другие факторы окружающей среды. Также определены классификации компонентов в зависимости от их применения, а также измеряемые величины, что обеспечивает возможность проведения сопоставительных анализов. Эти данные полезны как для производителя, так и для организаций, занимающихся контролем качества.

Целевая аудитория стандарта включает производителей оптоэлектронных компонентов, лаборатории, а также контролирующие органы. Стандарт преимущественно используется для разработки новых продуктов и улучшения существующих, что позволяет снизить риски, связанные с их эксплуатацией. Таким образом, он способствует формированию единых требований к безопасности и эффективности в области оптоэлектроники.

Практическое значение «IEC 60747-17-2020 cor1-2021» заключается в его влиянии на безопасность, качество продукции и охрану труда в процессе производства. Стандарт помогает производителям адаптироваться к современным требованиям рынка и повышает уровень доверия потребителей. Возможные изменения или дополнения к стандарту направлены на уточнение методов испытаний и адаптацию их к новым технологиям и материалам.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-16-8-2022 Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters Полупроводниковые устройства - Часть 16-8: Микроволновые интегральные схемы - Ограничители PDF IEC 60747-16-6-2019 Semiconductor devices – Part 16-6: Microwave integrated circuits – Frequency multipliers Полупроводниковые устройства – Часть 16-6: Микроволновые интегральные схемы – Частотные умножители PDF IEC 60747-16-5-2020 PDF IEC 60747-17-2020 Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation Полупроводниковые устройства - Часть 17: Магнитные и емкостные куплеры для основной и усиленной изоляции PDF IEC 60747-18-1-2019 Semiconductor devices – Part 18-1: Semiconductor bio sensors – Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors Полупроводниковые устройства – Часть 18-1: Полупроводниковые биосенсоры – Метод испытаний и анализ данных для калибровки датчиков без линз CMOS фотонных массивов PDF IEC 60747-18-2-2020 Semiconductor devices – Part 18-2: Semiconductor bio sensors – Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modules Полупроводниковые устройства – Часть 18-2: Полупроводниковые биосенсоры – Процесс оценки модулей без линз CMOS фотонных массивов датчиков