Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-5-15-2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy Полупроводниковые устройства - Часть 5-15: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний напряжения плоского уровня на основе спектроскопии электроотражения

Название документа
IEC 60747-5-15-2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy Полупроводниковые устройства - Часть 5-15: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний напряжения плоского уровня на основе спектроскопии электроотражения
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-5-15-2022» касается полупроводниковых устройств, конкретно оптоэлектронных приборов, и представляет собой стандарт для тестирования светодиодов с использованием метода электрорефлектансной спектроскопии для определения плоского порогового напряжения. Основное назначение этой нормы — обеспечение единообразия в методах испытаний и оценке характеристик светодиодов, которые являются ключевыми компонентами в современных оптоэлектронных системах.

Стандарт регламентирует процедуры, методы и параметры, необходимые для выполнения испытаний светодиодов, сосредотачиваясь на тестировании плоского порогового напряжения. В частности, описываются технические детали, такие как используемые условия испытаний, необходимые оборудование и измеряемые величины, что позволяет лабораториям точно оценивать характеристики светодиодов в различных условиях эксплуатации.

Целевой аудиторией данного документа являются производители светодиодов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие и сертифицирующие органы, работающие в области оптоэлектроники. Осваивая данный стандарт, они могут гарантировать, что их устройства соответствуют требованиям устройства, безопасности и производительности, что, в свою очередь, является важным для повышения доверия конечных пользователей к качеству предлагаемых решений.

Практическое значение стандарта заключается в его способности повышать уровень безопасности, качества и эффективности производства светодиодов, а также в обеспечении их совместимости с действующими нормами и стандартами. Его применение может способствовать минимизации рисков, связанных с эксплуатацией оптоэлектронных устройств, и способствовать улучшению охраны труда на этапах разработки и производства.

Согласно последним изменениям, внесенным в стандарт, уточняются некоторые методы испытаний и добавляются дополнительные параметры, что делает тестирование более полным и точным. Это позволяет избежать потенциальных недоразумений и обеспечивает более высокую степень надежности результатов испытаний, что в свою очередь важным образом влияет на соответствие продукции требованиям безопасности и качества.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов PDF IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов PDF IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры PDF IEC 60747-5-2-2009 PDF IEC 60747-5-3-2009 PDF IEC 60747-5-4-2022 Semiconductor devices - Part 5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers Полупроводниковые устройства - Часть 5-4: Оптоэлектронные устройства - Полупроводниковые лазеры