Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов

Название документа
IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-5-11-2019» представляет собой стандарт, касающийся полупроводниковых устройств, и в частности, оптоэлектронных устройств, таких как светодиоды. Основное назначение этого документа заключается в определении методов испытаний радиативных и не радиативных токов светодиодов, что позволяет оценивать их характеристики и эффективность. Стандарт применяется производителями светодиодов, лабораториями, а также контролирующими органами для обеспечения единых требований к качеству продукции.

Ключевые регламентируемые аспекты данного документа включают методы тестирования, параметры испытаний, а также требования к условиям, при которых проводятся измерения. Важно отметить, что стандарт описывает как радиативные, так и не радиативные токи, предоставляя четкие методологические рекомендации, что позволяет избежать недоразумений в интерпретации результатов. Документ служит основой для стандартизации подходов в оценке эффективности светодиодов и их применения в различных областях техники.

Важные технические детали, указанные в стандарте, охватывают условия испытаний, включая температурные диапазоны и параметры окружающей среды. Измеряемые величины зафиксированы с учетом методов, позволяющих получить точную и воспроизводимую информацию о работе светодиодов. Стандарт также вводит классификации для различных типов светодиодов, что способствует упрощению процессов сертификации и контроля качества.

Целевая аудитория данного документа включает производителей светодиодов, исследовательские лаборатории, а также органы сертификации, занимающиеся проверкой соответствия продукции стандартам. Стандарт имеет практическое значение для обеспечения безопасности и повышения качества светодиодов, что, в свою очередь, положительно сказывается на выпуске надежной и безопасной продукции. Влияние документа распространяется на вопросы охраны труда и совместимости устройств в различных условиях эксплуатации.

При наличии изменений или дополнений в этом стандарте акцент делается на уточнение методов испытаний и уточнение параметров, используемых для оценки светодиодов. Эти обновления призваны улучшить качество испытаний и обеспечить большую точность в оценке электрических и оптических характеристик устройств. Таким образом, документ «IEC 60747-5-11-2019» играет важную роль в развитии и стандартизации технологий, касающихся светодиодов, что делает его актуальным и необходимым инструментом для профессионалов в области оптоэлектроники.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры PDF IEC 60747-5-1-2002 PDF IEC 60747-4-2017 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 4: Microwave diodes and transistors Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 4: Микроволновые диоды и транзисторы PDF IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов PDF IEC 60747-5-15-2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy Полупроводниковые устройства - Часть 5-15: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний напряжения плоского уровня на основе спектроскопии электроотражения PDF IEC 60747-5-2-2009