Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-5-1-2002

Название документа
IEC 60747-5-1-2002
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-5-1-2002» представляет собой международный стандарт, разработанный для регламентирования методов и условий испытаний в области полупроводниковых устройств. Его основное назначение заключается в установлении необходимых параметров и требований, которые должны быть соблюдены для обеспечения надежности и безопасности этих устройств в различных приложениях. Стандарт находит широкое применение в производстве электроники, а также в научных исследованиях, связанных с полупроводниковыми технологиями.

Ключевыми аспектами стандарта являются регламентация методов испытаний, необходимых для определения электрических характеристик полупроводниковых компонентов, включая параметры, такие как напряжение пробоя, температура насыщения и другие критически важные величины. В документе также подробно описаны процедуры измерения и классификации полупроводников с целью обеспечения совместимости и надежности в различных условиях эксплуатации.

Важные технические детали, изложенные в стандарте, касаются условий испытаний, которые должны проводиться в контролируемых средах, а также описания приборов и методов их калибровки. Спецификации включают аспекты, такие как температура, влажность и воздействие электромагнитных полей, которые могут повлиять на параметры тестируемых устройств. Эти параметры обеспечивают систематическую проверку качества и безопасности полупроводниковых компонентов.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители полупроводниковых изделий, научные лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются проверкой и сертификацией этих изделий. Стандарт полезен для всех участников рынка, поскольку создает основу для единообразных требований и процедуры тестирования, что повышает общую надежность и безопасность продукции.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств, обеспечивая единые критерии для оценки их работоспособности и совместимости с другими компонентами. Стандарт также способствует снижению рисков, связанных с эксплуатацией электроприборов и оборудования на базе полупроводников, улучшая условия труда и охрану окружающей среды. При наличии изменений работодатели и производители должны быть осведомлены о новых процедурах и требованиях, чтобы поддерживать соответствие современным стандартам безопасности и качества.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-4-2017 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 4: Microwave diodes and transistors Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 4: Микроволновые диоды и транзисторы PDF IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes Полупроводниковые устройства – Часть 3: Дискретные устройства: Диоды сигналов, переключения и регулирования PDF IEC 60747-2-2016 Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes Полупроводниковые устройства - Часть 2: Дискретные устройства - Диоды выпрямления PDF IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры PDF IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов PDF IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов