Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60748-11-1990 Semiconductor Devices - Integrated Circuits Part 11: Sectional Specification for Semiconductor Integrated Circuits Excluding Hybrid Circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы Часть 11: Спецификация по разделам для полупроводниковых интегральных схем, исключая гибридные схемы

Название документа
IEC 60748-11-1990 Semiconductor Devices - Integrated Circuits Part 11: Sectional Specification for Semiconductor Integrated Circuits Excluding Hybrid Circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы Часть 11: Спецификация по разделам для полупроводниковых интегральных схем, исключая гибридные схемы
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60748-11-1990 Semiconductor Devices - Integrated Circuits Part 11: Sectional Specification for Semiconductor Integrated Circuits Excluding Hybrid Circuits» устанавливает спецификации для интегральных схем, исключая гибридные схемы. Он предназначен для использования в производственной и исследовательской среде, обеспечивая стандартные методы измерения и испытаний, применяемые в данной области. Стандарт направлен на упрощение процесса сертификации и проверки качества полупроводниковых устройств.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми в документе, являются параметры производительности, поля применения и методы испытаний интегральных схем. Важными критериями являются надежность, устойчивость к внешним условиям и совместимость с другими электронными компонентами. Стандарт также описывает процедуры для тестирования и проверки электрических характеристик, таких как ток, напряжение и частота.

В техническом аспекте документ включает условия испытаний, классификации и измеряемые величины, касающиеся как функциональных, так и не функциональных характеристик интегральных схем. Установлены точные требования к компонентам, таким как температура эксплуатации и воздействия, которые следует учитывать во время испытаний. Это позволяет обеспечивать стабильную работу устройств в различных условиях эксплуатации.

Целевая аудитория документа включает производителей полупроводниковых интегральных схем, испытательные лаборатории и контролирующие органы, что делает стандарт важным инструментом для обеспечения качества и надежности продукции. Стандарты IEC широко используются для упрощения процесса институционального контроля и содействуют повышению уровня доверия к техническим характеристикам продуктов на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, а также в улучшении рабочих условий и охраны труда, связанных с эксплуатацией полупроводниковых устройств. Стандарт способствует обеспечению совместимости между различными типами интегральных схем и другими компонентами в электронных системах, что влияет на общую работоспособность и эффективность устройств. В последних редакциях учтены изменения, касающиеся новых технологий и методов, что делает документ актуальным для современного производства.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60748-11-1990 amd2-1999 AMD2-1999 PDF IEC 60748-11-1990 amd1-1995 AMD1-1995 PDF IEC 60748-11-1-1992 Semiconductor Devices Integrated Circuits Part 11: Section 1: Internal Visual Examination for Semiconductor Integrated Circuits Excluding Hybrid Circuits Полупроводниковые устройства Интегральные схемы Часть 11: Раздел 1: Визуальный осмотр внутри для полупроводниковых интегральных схем, исключая гибридные схемы PDF IEC 60748-2-1-1991 Semiconductor Devices Integrated Circuits Part 2: Digital Integrated Circuits Section One - Blank Detail Specification for Bipolar Monolithic Digital Integrated Circuit Gates (Excluding Uncommitted Logic Arrays) Полупроводниковые устройства Интегральные схемы Часть 2: Цифровые интегральные схемы Раздел Один - Пустой технический спецификационный документ для биполярных монолитных цифровых интегральных схемных вентилей (исключая неиспользуемые логические массивы) PDF IEC 60748-2-10-1994 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 2: Digital Integrated Circuits - Section 10: Blank Detail Specification for Integrated Circuit Dynamic Read/Write Memories Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 2: Цифровые интегральные схемы - Раздел 10: Пустой технический спецификационный документ для интегральной схемы динамической памяти чтения/записи PDF IEC 60748-2-11-1999 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 2-11: Digital Integrated Circuits - Blank Detail Specification for Single Supply Integrated Circuit, Electrically Erasable, and Programmable Read-Only Memory Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 2-11: Цифровые интегральные схемы - Пустой технический спецификационный документ для интегральной схемы с однократным питанием, электрически стираемой и программируемой памятью только для чтения