Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 60748-11-1990 amd1-1995
Документ IEC 60748-11:1990 с изменением 1:1995 устанавливает методы измерений характеристик оптоэлектронных приборов и систем, используемых в различных областях, включая телекоммуникации и автоматизацию. Основное назначение стандарта заключается в обеспечении качества и совместимости оптических изделий, что является важным аспектом в современном производственном процессе. Стандарт предназначен для применения как производителями, так и исследовательскими лабораториями, что делает его ключевым элементом в процессе контроля качества.
Основные регламентируемые аспекты включают методы испытаний для определения параметров оптических компонентов, таких как коэффициент передачи и угол рассеяния. Также документ описывает требования к условиям проведения испытаний, включая необходимую климатическую среду и электрические характеристики. Параметры, рассматриваемые в стандарте, помогают гарантировать точность и надежность результатов тестирования оборудования.
Важные технические детали включают спецификации по температурным и влажностным условиям, в которых должны проводиться измерения, а также классификацию оптических систем на основе их эксплуатационных характеристик. Стандарт также охватывает измеряемые величины, что обеспечивает однозначное понимание терминологии и минимизирует риски неправильной интерпретации данных. Это особенно важно в контексте сертификации и аккредитации продукции.
Целевая аудитория документа включает производителей оптоэлектронной продукции, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, что подчеркивает его важность на всех этапах жизненного цикла продукта. Понимание и соблюдение стандартов, представленных в IEC 60748-11, способствует выработке протоколов испытаний и проверок, необходимых для обеспечения соответствия требованиям рынка.
Практическое значение данного стандарта невозможно переоценить, так как он прямо влияет на безопасность и качество продукции, а также на условия труда. Соответствие установленным нормам минимизирует риски ненадежной работы оборудования и потенциальные аварийные ситуации. В документе также указаны изменения, внесенные в 1995 году, которые касаются уточнения методов испытаний и улучшения условий для повышения точности измерений.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 60748-11-1-1992 Semiconductor Devices Integrated Circuits Part 11: Section 1: Internal Visual Examination for Semiconductor Integrated Circuits Excluding Hybrid Circuits
IEC 60748-1-2002 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 1: General
IEC 60747-9-2019 Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
IEC 60748-11-1990 amd2-1999
IEC 60748-11-1990 Semiconductor Devices - Integrated Circuits Part 11: Sectional Specification for Semiconductor Integrated Circuits Excluding Hybrid Circuits
IEC 60748-2-1-1991 Semiconductor Devices Integrated Circuits Part 2: Digital Integrated Circuits Section One - Blank Detail Specification for Bipolar Monolithic Digital Integrated Circuit Gates (Excluding Uncommitted Logic Arrays)