Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-9-2019 Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) Полупроводниковые устройства - Часть 9: Отдельные устройства - Изолированные затворные биполярные транзисторы (IGBT)

Название документа
IEC 60747-9-2019 Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) Полупроводниковые устройства - Часть 9: Отдельные устройства - Изолированные затворные биполярные транзисторы (IGBT)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-9-2019» устанавливает международные стандарты для полупроводниковых приборов, в частности, для изолированных затворных биполярных транзисторов (IGBT). Он предназначен для использования производителями ИGBT, лабораториями и контролирующими органами, обеспечивая единые требования и методы, что способствует взаимопониманию и улучшению качества продукции на рынке.

Основные аспекты данного документа включают методы испытаний, параметры необходимые для обеспечения надежной работы IGBT, а также требования к документации, предоставляемой производителями. Спецификации охватывают такие параметры, как электрические характеристики, температурные режимы и методы измерения, что позволяет обеспечить высокую точность и воспроизводимость при тестировании изделий.

Кроме того, документ описывает важные технические детали, такие как условия испытаний и классификации IGBT. Указанные нормы включают измерение параметров, таких как напряжение, ток и рабочие температуры, что критично для оценки производительности и долговечности приборов в реальных условиях.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводников, испытательные лаборатории и контролирующие органы, заинтересованные в надежности и безопасности использования IGBT. Применение стандарта способствует повышению уровня качества и соответствия продукции международным требованиям, а также улучшает коммуникацию между участниками рынка.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость изделий, а также на охрану труда в процессе их эксплуатации. Стандарт также может включать обновления и изменения касающиеся новых методов испытаний и технологий, которые учитывают современные требования и научные достижения в области полупроводников.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-8-4-2004 Discrete semiconductor devices - Part 8-4: Metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) for power switching applications Отдельные полупроводниковые устройства - Часть 8-4: Металлооксидные полевые транзисторы (MOSFET) для применения в силовых переключателях PDF IEC 60747-8-3-1995 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors - Section 3: Blank detail specification for case-rated field effect transistors for switching applications Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 8: Полевые транзисторы - Раздел 3: Пустой технический спецификационный документ для корпусированных полевых транзисторов для применения в переключателях PDF IEC 60747-8-2021 PDF IEC 60748-1-2002 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 1: General Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 1: Общие PDF IEC 60748-11-1-1992 Semiconductor Devices Integrated Circuits Part 11: Section 1: Internal Visual Examination for Semiconductor Integrated Circuits Excluding Hybrid Circuits Полупроводниковые устройства Интегральные схемы Часть 11: Раздел 1: Визуальный осмотр внутри для полупроводниковых интегральных схем, исключая гибридные схемы PDF IEC 60748-11-1990 amd1-1995 AMD1-1995