Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60748-2-9-1994 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 2: Digital Integrated Circuits - Section 9: Blank Detail Specification for MOS Ultraviolet Light Erasable Electrically Programmable Read-Only Memories Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 2: Цифровые интегральные схемы - Раздел 9: Пустой технический спецификационный документ для MOS интегральных схем с ультрафиолетовым светочувствительным электрически программируемой памятью

Название документа
IEC 60748-2-9-1994 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 2: Digital Integrated Circuits - Section 9: Blank Detail Specification for MOS Ultraviolet Light Erasable Electrically Programmable Read-Only Memories Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 2: Цифровые интегральные схемы - Раздел 9: Пустой технический спецификационный документ для MOS интегральных схем с ультрафиолетовым светочувствительным электрически программируемой памятью
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60748-2-9-1994» представляет собой спецификацию для полупроводниковых устройств, в частности для цифровых интегральных схем, с акцентом на матрицы, которые можно стереть ультрафиолетовым светом и перезапрограммировать электрически. Основное назначение данного документа заключается в унификации характеристик и параметров, а также в установлении требуемых методов испытаний для таких запоминающих устройств, что имеет важное значение для обеспечения их надежности и функциональности в различных приложениях.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы испытаний, параметры электрических и механических характеристик, а также требования к условиям эксплуатации. Спецификация описывает процедуры, которые должны быть соблюдены при тестировании, включая описание измеряемых величин и усилий, необходимых для оценки эффективности работы устройств. Эти параметры являются критически важными для подтверждения качества и надежности памяти в различных электронных системах.

Важные технические детали включают в себя классификации устройств, условия испытаний при различных температурах и уровнях напряжения, а также методологии, применяемые для верификации функциональности. Спецификация требует, чтобы все тесты проводились в четко определенных условиях, что позволяет обеспечить воспроизводимость результатов и их сопоставимость между различными производителями и лабораториями.

Целевая аудитория данного документа включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которые отвечают за соблюдение стандартов качества и безопасности в производстве электронной продукции. Спецификация служит важным инструментом для производителей, позволяя им следовать общепринятым требованиям и продвигать свои разработки на рынке с уверенностью в их соответствии международным стандартам.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость продуктов. Соблюдение требований, изложенных в этом документе, способствует снижению рисков неисправностей, повышению долговечности электронных компонентов и обеспечению стандартов охраны труда. Как и другие обновленные спецификации, данный стандарт может подвергаться изменениям для учета новых технологических достижений, таким образом оставаясь актуальным для промышленности и науки.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60748-2-8-1993 Semiconductor Devices Integrated Circuits - Part 2: Digital Integrated Circuits - Section Eight - Blank Detail Specification for Integrated Circuit Static Read/Write Memories Полупроводниковые устройства Интегральные схемы - Часть 2: Цифровые интегральные схемы - Раздел восемь - Пустой технический спецификационный документ для интегральных схем с памятью статического чтения/записи PDF IEC 60748-2-7-1992 Semiconductor devices. Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section seven: Blank detail specification for integrated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories Полупроводниковые устройства. Интегральные схемы - Часть 2: Цифровые интегральные схемы - Раздел семь: Пустой технический спецификационный документ для интегральных схем с программируемой памятью на основе связей PDF IEC 60748-2-6-1991 Semiconductor devices. Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section Six: Blank detail specification for microprocessor integrated circuits Полупроводниковые устройства. Интегральные схемы - Часть 2: Цифровые интегральные схемы - Раздел Шесть: Пустой технический спецификационный документ для микропроцессорных интегральных схем PDF IEC 60748-20-1-1994 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 20: Generic Specification for Film Integrated Circuits and Hybrid Film Integrated Circuits - Section 1: Requirements for Internal Visual Examination Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 20: Общая спецификация для пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем - Раздел 1: Требования к визуальному осмотру внутри предприятия PDF IEC 60748-20-1988 amd1-1995 AMD1-1995 PDF IEC 60748-20-1988 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 20: Generic Specification for Film Integrated Circuits and Hybrid Film Integrated Circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 20: Общая спецификация для пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем