Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60748-20-1988 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 20: Generic Specification for Film Integrated Circuits and Hybrid Film Integrated Circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 20: Общая спецификация для пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем

Название документа
IEC 60748-20-1988 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 20: Generic Specification for Film Integrated Circuits and Hybrid Film Integrated Circuits Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 20: Общая спецификация для пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60748-20-1988» представляет собой международный стандарт, касающийся полупроводниковых устройств, в частности, интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем. Основное назначение данного документа заключается в предоставлении обобщенной спецификации для разработки, испытания и оценки качества этих устройств. Стандарт охватывает широкий спектр применения, включая электронные и автоматические системы, что подчеркивает его важность в современном производстве электроники.

В стандарте регламентируются ключевые аспекты, такие как методы испытаний, параметры производительности и требования к материалам, используемым в изготовлении интегральных схем. Основное внимание уделяется процедурам испытаний, которые обеспечивают надежность и функциональность конечного продукта. Документ также определяет предельные условия эксплуатации и лицензионные критерии, позволяющие гарантировать соответствие изделий международным стандартам.

Технические детали, описанные в стандарте, включают классификации интегральных схем по типам и использование измеряемых величин, таких как температура, напряжение и ток. Эти аспекты критически важны для лабораторий, занимающихся тестированием и верификацией, а также для производителей, которые должны следовать установленным нормам, чтобы обеспечить качество своей продукции. Также документ содержит условия испытаний, которые служат основой для проверки соответствия продукции.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, испытательные лаборатории и контролирующие органы, отвечающие за мониторинг соблюдения качества и безопасности электроники. Эти группы играют ключевую роль в реализации требований стандарта и обеспечении производства надежной и безопасной продукции, что непосредственно влияет на конечных пользователей.

Практическое значение стандарта проявляется в его воздействии на безопасность, качество и совместимость интегральных схем. Стандарт способствует снижению рисков, связанных с неисправностями оборудования, и повышает доверие потребителей к продуктам, соответствующим международным нормам. В документе также указаны последние изменения и дополнения, касающиеся новых методик испытаний и обновленных требований, что подчеркивает его актуальность в быстро меняющемся мире технологий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60748-20-1988 amd1-1995 AMD1-1995 PDF IEC 60748-20-1-1994 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 20: Generic Specification for Film Integrated Circuits and Hybrid Film Integrated Circuits - Section 1: Requirements for Internal Visual Examination Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 20: Общая спецификация для пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем - Раздел 1: Требования к визуальному осмотру внутри предприятия PDF IEC 60748-2-9-1994 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 2: Digital Integrated Circuits - Section 9: Blank Detail Specification for MOS Ultraviolet Light Erasable Electrically Programmable Read-Only Memories Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 2: Цифровые интегральные схемы - Раздел 9: Пустой технический спецификационный документ для MOS интегральных схем с ультрафиолетовым светочувствительным электрически программируемой памятью PDF IEC 60748-21-1-1997 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 21-1: Blank Detail Specification for Film Integrated Circuits and Hybrid Film Integrated Circuits on the Basis of Qualification Approval Procedures Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 21-1: Пустой технический спецификационный документ для пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем на основе процедур утверждения квалификации PDF IEC 60748-21-1997 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 21: Sectional Specification for Film Integrated Circuits and Hybrid Film Intergrated Circuits on the Basis of Qualification Approval Procedures Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 21: Разделенная спецификация для пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем на основе процедур утверждения квалификации PDF IEC 60748-22-1-1997 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 22-1: Blank Detail Specification for Film Integrated Circuits and Hybrid Film Integrated Circuits on the Basis of the Capability Approval Procedures Полупроводниковые устройства - Интегральные схемы - Часть 22-1: Пустой технический спецификационный документ для пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем на основе процедур утверждения способности