Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60749-21-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 21: Solderability Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 21: Свариваемость

Название документа
IEC 60749-21-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 21: Solderability Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 21: Свариваемость
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60749-21-2011» является международным стандартом, регулирующим механические и климатические испытания полупроводниковых устройств. Он описывает методы оценки их способности к пайке, что является критически важным для обеспечения надежности и долговечности электрических соединений в компонентах. Стандарт применяется в области электроники, включая производство, тестирование и контроль качества полупроводниковых изделий.

Ключевыми аспектами данного документа являются определение методов тестирования пайки, необходимых параметров и требований к условиям проведения испытаний. В документе рассматриваются различные методики, такие как испытания на смачиваемость, которые должны учитывать температуру, время и тип используемого флюса. Эти методы помогают производителям обеспечить соответствие своих изделий установленным нормам и стандартам.

Стандарт также содержит важные технические детали, включающие условия тестирования, классификацию измеряемых величин, таких как угол wetting и прочность соединений. Важным аспектом является необходимость валидации методов на различных типах оловосодержащих и безоловянных сплавов, что дает возможность гибко подходить к производственным процессам. Это обеспечивает возможность точной и надежной оценки качества пайки в зависимости от используемых материалов.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, лаборатории, осуществляющие тестирование, а также контролирующие органы, которые отвечают за сертификацию и соблюдение норм в области электроники. Понимание требований, описанных в документе, помогает всем участникам процесса гарантировать высокое качество и безопасность продукции на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых изделий. Соблюдение требований IEC 60749-21-2011 помогает минимизировать риски сбоев в работе электрических систем и снижает вероятность неисправностей, связанных с ненадежными соединениями. Основные изменения и дополнения в документе касаются уточнения параметров испытаний, что позволяет более точно адаптировать процедуры к современным технологиям в производстве.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60749-20-2020 PDF IEC 60749-20-1-2019 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 20-1: Обработка, упаковка, маркировка и доставка поверхностно-монтируемых устройств, чувствительных к совместному воздействию влаги и температуры пайки PDF IEC 60749-2-2002 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 2: Низкое атмосферное давление PDF IEC 60749-22-2002 Cor1-2003 IEC 60749-22-2002 Cor1-2003 PDF IEC 60749-22-2002 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 22: Bond strength Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 22: Сила сварного соединения PDF IEC 60749-23-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 23: Срок службы при высокой температуре