Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 60749-44-2016 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 44: Метод испытаний на эффект однократного события (SEE) при облучении нейтронным пучком для полупроводниковых устройств
Документ «IEC 60749-44-2016» устанавливает методы механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств, фокусируясь на методе испытаний, связанном с воздействием нейтронного потока, что важно для оценки одиночных событийных эффектов (SEE). Основное назначение стандарта — обеспечить единые подходы к проведению испытаний, что способствует созданию надежных устройств, применяемых в условиях космической и высокорадиоактивной среды.
Стандарт регламентирует основные аспекты, такие как условия тестирования, параметры эксперимента и необходимые процедуры для оценки SEE. Важные технические детали включают описание испытательных установок, параметры нейтронного излучения и подходы к анализу полученных данных о влиянии излучения на полупроводниковые элементы. Также учитываются факторы окружающей среды, такие как температура и влажность, которые могут влиять на результаты тестов.
Целевой аудиторией документа являются производители полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и испытанием электросхем. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих решений, позволяя производителям создавать устройства, соответствующие современным требованиям безопасности и надежности.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых решений. Применение данного документа повышает уровень защиты от потенциальных аварий и гарантирует соответствие продукции международным стандартам. Изменения в последних редакциях документа добавляют новые методические рекомендации и уточняют параметры испытаний, что способствует более точной оценке SEE.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
IEC 60749-43-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 43: Руководящие указания по планам квалификации надежности ИС
IEC 60749-42-2014 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 42: Temperature and humidity storage
Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 42: Хранение при температуре и влажности
IEC 60749-41-2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 41: Стандартные методы испытаний надежности непротивовосстановительных памяти устройств
IEC 60749-5-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 5: Постоянный тест температуры, влажности и напряжения
IEC 60749-6-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 6: Хранение при высокой температуре
IEC 60749-7-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 7: Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов