Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 60749-44-2016 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Документ «IEC 60749-44-2016» устанавливает методы механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств, фокусируясь на методе испытаний, связанном с воздействием нейтронного потока, что важно для оценки одиночных событийных эффектов (SEE). Основное назначение стандарта — обеспечить единые подходы к проведению испытаний, что способствует созданию надежных устройств, применяемых в условиях космической и высокорадиоактивной среды.
Стандарт регламентирует основные аспекты, такие как условия тестирования, параметры эксперимента и необходимые процедуры для оценки SEE. Важные технические детали включают описание испытательных установок, параметры нейтронного излучения и подходы к анализу полученных данных о влиянии излучения на полупроводниковые элементы. Также учитываются факторы окружающей среды, такие как температура и влажность, которые могут влиять на результаты тестов.
Целевой аудиторией документа являются производители полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и испытанием электросхем. Стандарт служит основой для разработки новых технологий и улучшения существующих решений, позволяя производителям создавать устройства, соответствующие современным требованиям безопасности и надежности.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых решений. Применение данного документа повышает уровень защиты от потенциальных аварий и гарантирует соответствие продукции международным стандартам. Изменения в последних редакциях документа добавляют новые методические рекомендации и уточняют параметры испытаний, что способствует более точной оценке SEE.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 60749-43-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
IEC 60749-42-2014 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 42: Temperature and humidity storage
IEC 60749-41-2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
IEC 60749-5-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
IEC 60749-6-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
IEC 60749-7-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases