Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60749-42-2014 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 42: Temperature and humidity storage Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 42: Хранение при температуре и влажности

Название документа
IEC 60749-42-2014 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 42: Temperature and humidity storage Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 42: Хранение при температуре и влажности
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60749-42-2014» посвящён методам механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств с фокусом на хранение при повышенной температуре и влажности. Его основное назначение заключается в стандартизации процедур испытаний, чтобы обеспечить надежность и долговечность полупроводников в соответствии с международными нормами. Стандарт применяется в различных областях, включая электронику и коммуникационные технологии, обеспечивая однородные условия для оценивания качества продукции.

В документе регламентируются ключевые аспекты, такие как методы тестирования, параметры хранения, а также требования к испытательным условиям. Описаны необходимые условия, такие как температура и уровень влажности, при которых проводятся испытания, а также классификация полупроводниковых устройств по их устойчивости. Также приведены заявленные измеряемые величины, которые служат критериями качества и долговечности.

Целевая аудитория стандарта охватывает производителей полупроводниковых устройств, испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, которые отвечают за соблюдение качественных норм. Стандарт помогает производителям демонстрировать соответствие своей продукции международным требованиям, что может повысить доверие потребителей и улучшить рыночные позиции. Лаборатории, использующие данную методику, смогут более эффективно проводить оценку качества товаров.

Практическое значение стандарта «IEC 60749-42-2014» выходит за рамки простого обеспечения качества, оно также затрагивает вопросы безопасности и охраны труда, учитывая серьезные последствия при использовании ненадежных полупроводников. Следовательно, соблюдение данного документа способствует предотвращению аварийных ситуаций и улучшению механических характеристик устройств. Вместе с тем, изменения и дополнения к стандарту отражают современные требования к технологиям и материалам, что обеспечивает его актуальность.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60749-41-2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 41: Стандартные методы испытаний надежности непротивовосстановительных памяти устройств PDF IEC 60749-40-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 40: Board level drop test method using a strain gauge Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 40: Метод испытаний на падение на уровне платы с использованием датчика деформации PDF IEC 60749-4-2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 4: Влажность, стационарное состояние, тестирование при высокой скорости стресса (HAST) PDF IEC 60749-43-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 43: Руководящие указания по планам квалификации надежности ИС PDF IEC 60749-44-2016 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 44: Метод испытаний на эффект однократного события (SEE) при облучении нейтронным пучком для полупроводниковых устройств PDF IEC 60749-5-2017 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 5: Постоянный тест температуры, влажности и напряжения