Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 62132-2-2010 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 2: Measurement of radiated immunity – TEM cell and wideband TEM cell method Интегральные схемы – Измерение электромагнитной совместимости – Часть 2: Измерение радиационной совместимости – Метод TEM-клетки и широкополосного метода TEM-клетки
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «IEC 62132-2-2010» регулирует методы измерения электромагнитной стойкости интегральных схем, фокусируясь на измерении радиационной стойкости с помощью метода TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. Он нацелен на производителей интегральных схем, испытательные лаборатории и организации, занимающиеся контролем качества, обеспечивая стандартизацию процессов испытаний.
В рамках стандарта представлены ключевые аспекты, включая методы проведения испытаний, параметры настройки оборудования и требования к условиям тестирования. Обозначены конкретные процедуры для достижения точности и воспроизводимости результатов, которые являются критически важными для оценки электромагнитной совместимости (EMC) изделий.
Технические детали документа описывают условия испытаний, включая частоту, уровень мощности и площадь облучаемой поверхности. Также представлены классификации и измеряемые величины, такие как полева мощность и дельта-деформация, которые обуславливают эффективность защиты изделия от внешних электромагнитных источников.
Целевая аудитория стандарта охватывает широкий круг участников: разработчиков, производителей, исследовательские лаборатории и аккредитованные контролирующие органы. Данные группы отвечают за внедрение положений документа и проверку соответствия оборудования критериям безопасности и качества.
Практическое значение стандарта выражается в повышении уровня безопасности и надежности интегральных схем, что сказывается на долговечности и совместимости устройств в условиях разнообразных электромагнитных воздействий. Актуализация документа может включать изменения в процедуре испытаний или уточнения требований к параметрам измерений, что способствует дальнейшему развитию технологий.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
IEC 62132-1-2015 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 1: General conditions and definitions
Интегральные схемы – Измерение электромагнитной совместимости – Часть 1: Общие условия и определения
IEC 62129-3-2019 Calibration of wavelength / optical frequency measurement instruments – Part 3: Optical frequency meters internally referenced to a frequency comb
Калибровка приборов измерения длины волны/частоты оптического излучения – Часть 3: Оптические частотомеры, внутренне откалиброванные по частотному кому
IEC 62129-2-2011 Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments – Part 2: Michelson interferometer single wavelength meters
Калибровка приборов измерения длины волны/частоты оптического излучения – Часть 2: Мицельсовские интерферометры с одиночными измерителями длины волны
IEC 62132-3-2007 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 3: Bulk current injection (BCI) method
Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости, от 150 кГц до 1 ГГц – Часть 3: Метод инжекции объемного тока (BCI)
IEC 62132-4-2006 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz – Part 4: Direct RF power injection method
Интегральные схемы – Измерение электромагнитной совместимости 150 кГц до 1 ГГц – Часть 4: Метод прямого введения RF-мощности
IEC 62132-5-2005 Integrated circuits Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz Part 5: Workbench Faraday cage method
Интегральные схемы Измерение электромагнитной совместимости, 150 кГц до 1 ГГц Часть 5: Метод Faraday cage на рабочем столе