Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 62374-2007 Semiconductor devices – Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ
Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Возможно вас заинтересуют





