Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62374-2007 Semiconductor devices – Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

Название документа
IEC 62374-2007 Semiconductor devices – Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Скачать документ нельзя. Можно заказать бесплатно один документ

Международные и зарубежные стандарты ( ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.