496094752 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

JEDEC JEP170-2013

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
JEDEC JEP170-2013
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «JEDEC JEP170-2013» представляет собой стандарт, разработанный организацией JEDEC, который регламентирует методы тестирования и характеристик электронных компонентов, в частности, модулей памяти. Основное назначение данного документа заключается в определении процедур, используемых для оценивания надёжности и производительности полупроводниковых устройств, что критически важно для обеспечения их качества в процессе проектирования и производства.

Ключевые регламентируемые аспекты в документе включают параметры испытаний, такие как температура, напряжение и время воздействия, а также требования к условиям проведения испытаний. Эти параметры помогают определить долговечность и стабильность электронных компонентов в различных эксплуатационных условиях. Кроме того, в стандарте описаны методы измерения основных характеристик, включая скорость работы, энергопотребление и устойчивость к внешним воздействиям.

Целевая аудитория данного стандарта охватывает производителей полупроводниковых устройств, лаборатории, занимающиеся тестированием, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение нормативных требований. Понимание положений стандарта критически важно для специалистов, занимающихся разработкой и производством технологий для получения высококачественных и безопасных электронных устройств.

Практическое значение стандарта «JEDEC JEP170-2013» заключается в его влиянии на качество и безопасность продукции, что, в свою очередь, сказывается на общей устойчивости и надёжности всех электросистем. Следование ему способствует соблюдению стандартов охраны труда и безопасности для операторов, работающих с электроникой, а также улучшает совместимость изделий разных производителей, что важно для интеграции в более сложные системы.

При наличии изменений или дополнений к стандарту в последующих версиях документа учтены новые технологии и методы испытаний, что делает его актуальным инструментом для оценки новых типов полупроводниковых устройств. Подобные обновления помогают обеспечить соответствие современным требованиям рынка и технологическим тенденциям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»