Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50451-5-2010 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the d Тестирование материалов для технологии полупроводников - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 5: Рекомендации по выбору материалов и тестированию их пригодности для оборудования для отбора проб и подготовки проб для

Название документа
DIN 50451-5-2010 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the d Тестирование материалов для технологии полупроводников - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 5: Рекомендации по выбору материалов и тестированию их пригодности для оборудования для отбора проб и подготовки проб для
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50451-5-2010» представляет собой стандарт, направленный на тестирование материалов для полупроводниковой технологии и определение следовых элементов в жидкостях. Основная цель данного документа заключается в формулировании рекомендаций по выбору материалов и проверке их пригодности для оборудования, используемого для отбора и подготовки проб. Стандарт охватывает применимость и соответствие материалов требованиям, связанным с испытаниями в области полупроводников.

Ключевые регламентируемые аспекты включают методы пробоподготовки и параметры, необходимые для обеспечения точности и надежности испытаний. Документ описывает процедуры отбора проб и условия для тестирования, чтобы гарантировать отсутствие загрязнений и достоверность измерений. Обозначаются основные требования к оборудованию и средам, используемым в процессе тестирования, что играет значительную роль в получении точных результатов.

Важные технические детали включают классификации материалов по их составу и воздействию на анализируемые образцы. Стандарт также определяет измеряемые величины, включая содержание следовых элементов, что позволяет контролировать качество материалов в полупроводниковой технологии. Условия испытаний, такие как температура и давление, играют жизненно важную роль в обеспечении надежности получаемых данных.

Целевая аудитория документа включает производителей, лаборатории и контролирующие органы, занимающиеся разработкой и тестированием полупроводниковых материалов. Стандарт помогает обеспечить единообразие в методах тестирования и повышения качества продукции в отрасли, тем самым способствуя соблюдению законодательных и нормативных требований.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых материалов. Правильное применение рекомендаций стандарта может уменьшить риски, связанные с использованием неподходящих материалов, что в свою очередь повышает безопасность процессов и конечную продукцию. При наличии изменений или дополнений в этом стандарте они касаются уточнений в методах тестирования и новых подходов к оценке материалов, что позволяет улучшить качество контрольно-измерительных процессов.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50451-4-2007 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS) Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следовых элементов в жидкостях - Часть 4: Определение 34 элементов в сверхчистой воде методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP-MS) PDF DIN 50451-3 E-2012 PDF DIN 50451-3-2014 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 3: Определение 31 элемента в высокочистой азотной кислоте методом ICP-MS PDF DIN 50451-5-2022 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the d Тестирование материалов для технологии полупроводников - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 5: Рекомендации по выбору материалов и тестированию их пригодности для оборудования для отбора проб и подготовки проб для PDF DIN 50451-5 E-2008 PDF DIN 50451-5 E-2022