Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50451-3-2014 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 3: Определение 31 элемента в высокочистой азотной кислоте методом ICP-MS

Название документа
DIN 50451-3-2014 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 3: Определение 31 элемента в высокочистой азотной кислоте методом ICP-MS
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50451-3-2014» посвящен тестированию материалов для полупроводниковой технологии и описывает методы определения следов элементов в жидкостях. Он касается определения 31 элемента в высокочистом азотной кислоте с помощью метода масс-спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP-MS). Стандарт ориентирован на профессионалов в области полупроводников и лабораторной аналитики, предоставляя детализированные инструкции по проведению исследований.

Основная цель данного документа — установление единых требований и методов для анализа высокочистых жидкостей, что является критически важным для обеспечения качества продукции в полупроводниковой отрасли. Стандарт регламентирует параметры испытаний, методы анализа и отдельные требования к оснащению лабораторий, что способствует точности и надёжности получаемых результатов.

Важные технические детали включают описание условий испытаний, таких как предельно допустимые уровни загрязнителей и особенности подготовки проб. Также документ охватывает классификацию измеряемых величин, что позволяет обеспечить совместимость результатов различных тестов и повысить доверие к проведённым измерениям.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковой продукции, научные лаборатории и контролирующие органы, которым необходимо обеспечить соблюдение высоких стандартов качества и безопасности. Стандарт является важным инструментом для внедрения надлежащих практик в области тестирования, что способствует повышению уровня доверия со стороны потребителей и контролирующих органов.

Практическое значение стандарта заключается в его непосредственном влиянии на безопасность и качество полупроводниковой продукции. Обеспечение точности в определении содержания элементов позволяет предотвратить неожиданные последствия, связанные с низким качеством материалов. Кроме того, стандарты усиливают охрану труда на производственных предприятиях, минимизируя риск загрязнения и негативного воздействия на здоровье работников.

Изменения в данном документе касаются уточнения методов тестирования и пересмотра пределов допустимых значений для ряда элементов, что сделано для улучшения качества измерений. Актуализация информации помогает реагировать на изменения в производственных условиях и технологических процессах, отразив их в методах определения содержаний загрязняющих веществ в высокочистых жидкостях.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50451-3-2003 PDF DIN 50451-2-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 2: Calcium (Ca), cobalt (Co), chromium (Cr), copper (Cu), Iron (Fe), nickel (Ni) and zinc (Zn) in hydrofluoric acid with plasma-induced Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следовых элементов в жидкостях - Часть 2: Кальций (Ca), кобальт (Co), хром (Cr), медь (Cu), железо (Fe), никель (Ni) и цинк (Zn) в фтористом водороде с плазменной индукцией PDF DIN 50451-1-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 1: Silver (Ag), gold (Au), calcium (Ca), copper (Cu), iron (Fe), potassium (K) and sodium (Na) in nitric acid by AAS Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следовых элементов в жидкостях - Часть 1: Серебро (Ag), золото (Au), кальций (Ca), медь (Cu), железо (Fe), калий (K) и натрий (Na) в азотной кислоте методом ААС PDF DIN 50451-3 E-2012 PDF DIN 50451-4-2007 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS) Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следовых элементов в жидкостях - Часть 4: Определение 34 элементов в сверхчистой воде методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP-MS) PDF DIN 50451-5-2010 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the d Тестирование материалов для технологии полупроводников - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 5: Рекомендации по выбору материалов и тестированию их пригодности для оборудования для отбора проб и подготовки проб для