Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN 50451-1-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 1: Silver (Ag), gold (Au), calcium (Ca), copper (Cu), iron (Fe), potassium (K) and sodium (Na) in nitric acid by AAS Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следовых элементов в жидкостях - Часть 1: Серебро (Ag), золото (Au), кальций (Ca), медь (Cu), железо (Fe), калий (K) и натрий (Na) в азотной кислоте методом ААС

Название документа
DIN 50451-1-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 1: Silver (Ag), gold (Au), calcium (Ca), copper (Cu), iron (Fe), potassium (K) and sodium (Na) in nitric acid by AAS Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следовых элементов в жидкостях - Часть 1: Серебро (Ag), золото (Au), кальций (Ca), медь (Cu), железо (Fe), калий (K) и натрий (Na) в азотной кислоте методом ААС
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN 50451-1-2003» представляет собой стандарт, посвящённый испытаниям материалов для полупроводниковой технологии, с особым акцентом на определение следовых элементов в жидкостях. Основное назначение данного документа заключается в установлении надёжных методик для анализа содержания серебра (Ag), золота (Au), кальция (Ca), меди (Cu), железа (Fe), калия (K) и натрия (Na) в растворе азотной кислоты с использованием атомно-абсорбционной спектрометрии (AAS). Весьма актуален для лабораторий, занимающихся химическим анализом, а также для производителей полупроводниковых материалов и компонентов.

Документ регламентирует ключевые аспекты, включая используемые методы, параметры испытаний и соответствующие требования. Применение атомно-абсорбционной спектрометрии позволяет точно и надёжно определять содержание указанных элементов, что крайне важно для обеспечения качества полуфабрикатов и конечной продукции. Кроме того, стандарт включает указания по подготовке образцов и условиям проведения испытаний, что способствует унификации методик среди специалистов в этой области.

Важные технические детали, описанные в документе, охватывают условия испытаний, такие как температура и давление, а также требования к аналитическим приборам. Стандарт также обращает внимание на процессы калибровки и валидации методов, что обеспечивает достоверность результатов измерений. Эти аспекты особенно важны для лабораторий и контролирующих органов, поскольку они влияют на оценки качества и безопасности материалов.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводников, аналитические и контрольные лаборатории, а также регулирующие органы. Наличие четко определённых методик анализа, предложенных стандартом, позволяет тем, кто занимается разработкой и производством полупроводников, следовать современным требованиям к качеству и соответствия. Это, в свою очередь, способствует повышению надёжности и безопасности конечных продуктов.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на обеспечение качества, безопасности и охраны труда в области полупроводников. Следование данному стандарту способствует улучшению совместимости процессов и материалов, что критически важно в высокотехнологичных отраслях. Кроме того, стандарт может быть обновлён или дополнен в случае появления новых методик или технологий, что гарантирует его актуальность и соответствие современным требованиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN 50450-9 E-2020 PDF DIN 50450-9-2021 PDF DIN 50450-9-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C1-C3-hydrocarbons in gaseous hydro Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение примесей в газах-носителях и газах-донорах - Часть 9: Определение кислорода, азота, оксида углерода, диоксида углерода, водорода и C1-C3-углеводородов в газообразном водороде PDF DIN 50451-2-2003 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 2: Calcium (Ca), cobalt (Co), chromium (Cr), copper (Cu), Iron (Fe), nickel (Ni) and zinc (Zn) in hydrofluoric acid with plasma-induced Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следовых элементов в жидкостях - Часть 2: Кальций (Ca), кобальт (Co), хром (Cr), медь (Cu), железо (Fe), никель (Ni) и цинк (Zn) в фтористом водороде с плазменной индукцией PDF DIN 50451-3-2003 PDF DIN 50451-3-2014 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS Проверка материалов для полупроводниковой технологии - Определение следов элементов в жидкостях - Часть 3: Определение 31 элемента в высокочистой азотной кислоте методом ICP-MS